日本 INTECS 大功率大光斑工业检查灯INTECS UIH 系列强光检查灯采用 SCR 调光控制，亮度可调范围超 10:1，风扇强制风冷散热，通过高聚光强光凸显工件划痕、异物、气泡缺陷，适配手机、镜头、硬盘、晶圆等精密件质检；三档功率覆盖小到大尺寸检测场景，具备过热保护，运行稳定适配产线长期作业。

日本 INTECS 小型高亮度表面缺陷检查灯INTECS UIH 系列强光检查灯采用 SCR 调光控制，亮度可调范围超 10:1，风扇强制风冷散热，通过高聚光强光凸显工件划痕、异物、气泡缺陷，适配手机、镜头、硬盘、晶圆等精密件质检；三档功率覆盖小到大尺寸检测场景，具备过热保护，运行稳定适配产线长期作业。

日本 Atms 红外多气体定量泄漏检测仪 AIMEX-008XR PRO+B 为双电源红外多气体检漏仪，最高检测灵敏度 0.5ppm，兼容冷媒、SF6、CO₂、Novec 等全系列工业气体；搭载 ALQ 系统，抗酒精干扰、误报极低，吸气量大不漏检，实时显示泄漏浓度与漏率数值，电池便携不受场地限制，广泛用于制冷制造、电力 GIS、半导体设备出厂检测与现场维保。

日本 Atms 便携式 ppb 级 SF6 激光检漏仪本款 SF6 激光检漏仪采用紧凑便携一体化箱体，最高检测灵敏度可达 10ppb，可精准捕捉超微量 SF6 泄漏；支持多单位数值定量显示，蓄积法大幅缩短检测耗时，电池供电不受场地限制，自带专用 PC 数据分析程序，适配电力、半导体、制冷设备出厂质检与现场运维查漏。

日本 Bacharach 便携冷媒制冷剂泄漏检测仪Bacharach H-10 PRO 是高灵敏度入门级便携冷媒检漏仪，最高检测灵敏度 2.8g/y，兼容 HFO、HFC、HCFC、CFC 各类制冷剂；一体化手提箱、电池供电不受场地限制，通过蜂鸣与 LED 指示灯定性判断泄漏，运行成本低，广泛用于制冷设备制造与售后维保查漏作业。

日本 TECHNUM 非接触激光表面粗糙度检测仪TECHNUM TFS2100AW 是桌面小型非接触粗糙度与断面轮廓测量系统，搭载 φ2μm 极小光斑共焦激光，分辨率 0.01μm；可测金属、树脂、薄膜、玻璃、镜面工件，数据符合 JIS'94/JIS'01 国标，高速采集断面曲线，支持自定义粗糙度参数，无探针划伤样品，适配实验室精密表面表征。

日本 COMS 激光非接触式基板厚度测量系统日本 COMS TAP 系列搭载上下对射激光位移传感器，实现晶圆、基板非接触厚度检测；集成高精度 XY 自动位移平台，重复定位 ±1μm；可选配 CP-700M 控制器与 E-Measure2 采集软件，可多点扫描测绘厚度分布，适用于半导体、光学元件无损厚度检测。

日本 EWIG PET 瓶全高胴外径颈部摆动测量仪日本 EWIG EH-2000 集成激光非接触与接触式测头，一站式检测 PET 瓶全高、胴外径、颈部摆动偏斜；支持多点多角度采样，外径具备 MAX/MIN/ 常规三种测量模式，数据通过 RS232C 输出，可对接机器人联动，适配 PET、PE、玻璃瓶等多种包装容器品质检验。