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日本nisshooptical微米深度高度测量装置

日本nisshooptical微米深度高度测量装置 AFM-30

这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。
连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。
由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。

  • 产品型号:AFM-30
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-10-12
  • 访  问  量:177
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详细介绍

日本nisshooptical微米深度高度测量装置 AFM-30 特点介绍


这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。

连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。

由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。


这是一种狭缝图像、点光图像和电子线参考线的中心在测量点处都重合的测量系统,通过检查错位,可以防止测量值错误。 

光切割仰角可根据应用场合从标准90°至30°、60°、120°中选择。 


日本nisshooptical微米深度高度测量装置 AFM-30 规格参数


■ 观察方法 

 光学切割法(利用狭缝光学系统测量深度和高度) 

■ 物镜 

 固定放大倍率:10倍(也可提供5倍和20倍) 

■ Z轴驱动方式 

 使用聚光灯的 AF 连续跟踪方法(可离线手动测量) 

■ 投影狭缝 

 10μm半反射镜型 

■ Z轴测量 

 Z轴数字线性规0.1μm读数 

■ 重复性 

 ±1μm以内 

■ 使用的光源 

 半导体激光器(2级)、卤素光源 

清晰显示深度、高度和水平差的光学切割方法...自动捕捉代表横截面形状的细缝光、红色激光点和水平差的变化,Z轴功能快速跟随,并以数字方式记录测量值。这是一种新型深度/高度测量装置,结合了显示功能(自动对焦系统)和电子线法参考线,扩大了测量范围,增加了其实用价值。

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