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日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头

日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES

手持式方块电阻测量仪,兼容 4 探头法和无损(涡流法)探头

  • 产品型号:DUORES
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-10-13
  • 访  问  量:234
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详细介绍

日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES 特点介绍


手持式方块电阻测量仪,兼容 4 探头法和无损(涡流法)探头

手持式薄层电阻测量装置,易于携带和测量,

可根据测量对象更换两种类型的探头(无损型和接触型)。

可与两种类型探头(无损型和接触型)互换使用的手持式方块电阻测量装置。

只需放置/应用探头即可自动测量

电池连续工作时间:24小时(*使用电池时)

显示数据数:最多100条(*从最新数据开始显示)

保存数据数:最多50,000个(*专用软件显示)

测量数据传输功能:USB-Mini

显示:3种显示单位(Ω/□、S/□、n/m[金属膜厚度换算])、4位浮点数(0.000~9999)


日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES 规格参数


测量目标

薄膜、玻璃上的薄膜等

原则上任何样品只要在测量范围内都可以测量。

薄膜材料(ITO、TCO等)

低辐射玻璃

碳纳米管、石墨烯材料

金属材料(纳米线、网格、网格)

其他的

无论尺寸或厚度如何,均可进行测量

(*每个探头的测量点尺寸或更大)

<测量点>

无损探头(涡流式):φ25mm

接触探头(4探头型):9mm(针距3mm)

手持式方块电阻测量仪,兼容 4 探头法和无损(涡流法)探头

手持式薄层电阻测量装置,易于携带和测量,

可根据测量对象更换两种类型的探头(无损型和接触型)。


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