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日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES 特点介绍
手持式方块电阻测量仪,兼容 4 探头法和无损(涡流法)探头
手持式薄层电阻测量装置,易于携带和测量,
可根据测量对象更换两种类型的探头(无损型和接触型)。
可与两种类型探头(无损型和接触型)互换使用的手持式方块电阻测量装置。
只需放置/应用探头即可自动测量
电池连续工作时间:24小时(*使用电池时)
显示数据数:最多100条(*从最新数据开始显示)
保存数据数:最多50,000个(*专用软件显示)
测量数据传输功能:USB-Mini
显示:3种显示单位(Ω/□、S/□、n/m[金属膜厚度换算])、4位浮点数(0.000~9999)
日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES 规格参数
测量目标
薄膜、玻璃上的薄膜等
原则上任何样品只要在测量范围内都可以测量。
薄膜材料(ITO、TCO等)
低辐射玻璃
碳纳米管、石墨烯材料
金属材料(纳米线、网格、网格)
其他的
无论尺寸或厚度如何,均可进行测量
(*每个探头的测量点尺寸或更大)
<测量点>
无损探头(涡流式):φ25mm
接触探头(4探头型):9mm(针距3mm)
手持式方块电阻测量仪,兼容 4 探头法和无损(涡流法)探头
手持式薄层电阻测量装置,易于携带和测量,
可根据测量对象更换两种类型的探头(无损型和接触型)。