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日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪 WLI2000系列 特点介绍
厚度测量传感器WLI2000系列
该传感器的特点是利用光干涉非接触式测量工件的厚度。
它是应用医院眼底检查中使用的 OCT 检查技术而开发的工业测量传感器。
这是该公司的第一个内部产品。这是一种通过传输光,以非接触方式即时测量材料深度和厚度的装置,由工业界和学术界与千叶大学椎名龙夫实验室共同开发。据说任何能透过光的物质都可以测量。我们正在开发树脂、塑料、玻璃制品等检查的销售渠道。
它具有从15μm到14mm(空间距离)的宽测量范围,还可以进行其他测量方法难以完成的测量,例如测量透镜内部厚度、测量间隙深度和材料内部缺陷。
目前正在开发中,未来可用于再生医学领域。
日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪 WLI2000系列 规格参数
频道数可作为可选规格扩展至16ch。
为了提高精度,测定速度根据平均化和测定层数而变化。
·通过平均化处理提高测定精度。(10次平均、2mm玻璃板、±1μm实际结果)
测量范围为玻璃板。
来自外部系统的操作为使用的DIO模块的串行通信。
1最大8ch测定
2高速测定max.8ch/5sec
3测定精度+/-0.3%
4测量范围15微~10mm
5可从外部系统操作