日本 k-axis 外观分析测量高速激光体积计

日本 k-axis 外观分析测量高速激光体积计 日本 k-axis 外观分析测量高速激光体积计

产品简介

日本 K‑AXIS（株式会社ケイ・アクシス）AR‑01 高速激光体积计，采用狭缝激光扫描三维重建技术，是面向烘焙食品、不规则立体样品的非接触外观分析与体积测量设备。替代传统菜籽置换法，无需接触挤压样品，快速获取样品体积、外形尺寸、纵横比、刚度，外接天平可自动计算比体积，解决松软易变形样品测量难、人为误差大的痛点，广泛用于食品研发实验室与品质管控现场。

核心技术特点

激光非接触无损检测

搭载 670nm 红色半导体安全激光 + 双摄像头成像系统，样品无需夹具固定，刚出炉热样、冷冻样品可直接上机扫描，不会挤压损伤柔软面包、糕点，测试后样品可继续留存使用，无物料损耗。

三档测量速度，兼顾精度与效率

双摄高精度模式：约 40 秒，测量精度 ±1%，重复精度 ±0.2%，用于研发配方调试；

双摄高速模式：约 20 秒；

单摄高速模式：最快10 秒 / 个，适合产线批量抽检，大幅高于传统置换法效率。

完整外观多参数演算

自动输出：体积、长轴、短轴、长宽比、刚度；外接电子天平自动换算比体积（cm³/g），直接量化发酵、烘烤带来的蓬松度差异；软件支持中文 / 日文 / 英文，自动存储数据、导出报表，实现批次溯源对比。

大测量范围，适配多样样品

最大可测样品直径 φ300mm、高度 150mm，覆盖吐司、欧包、餐包、蛋糕，也可用于糖果、部分不规则工业试样三维体积评估。

抗环境干扰算法补偿

内置表面粗糙补偿、边缘衍射校正算法，适配多孔面包、糖霜、巧克力涂层等不同表面质地，降低材质反光带来测量偏差，保障长期数据稳定。

主要规格

表格

项目参数

型号AR‑01

测量方式狭缝激光旋转扫描，双相机三维重建

测量范围最大 φ300mm× 高 150mm

精度高精度模式 ±1%；重复精度 ±0.2%

激光光源670nm 半导体激光

配套主机、专用控制电脑，可选配电子天平

工作环境5‑35℃，AC220V 可选

品牌背景

日本 K‑AXIS（株式会社ケイ・アクシス），专注激光光学测量仪器研发制造，深耕食品三维外观检测领域，AR‑01 激光体积计是机型，大量应用于面粉企业、烘焙工厂、食品添加剂厂商、高校食品科研院所，是面包比容、外观形态标准化评价的主流设备。

应用行业

烘焙食品行业（面包、吐司、蛋糕、冷冻面团）、食品科研实验室、配料研发企业，拓展可用于糖果、部分异形材料体积外观检测。

日本k-axis面包外观分析测量高速激光体积计