热门搜索：日本物性测试仪、石川擂溃机、水泥水分计、脱气消泡罐、粉体硬度计、日本食感试验机

PRODUCT CLASSIFICATION

产品分类
查看全部产品 >>

TECHNICAL ARTICLES

相关文章

产品展示/ Product display

您的位置：首页  /  产品展示  /  仪器设备  /  测厚仪  /  TOF-S高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪

高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪

高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪
TOF-S 是一款桌面型离线分光干涉式厚度测量装置，主要用于测量电子、光学用透明平滑薄膜和多层薄膜的厚度。
实现高重复性测量，精度可达±0.01微米以下（取决于被测物和测量条件）。
温度稳定性：受温度变化影响小，适合在不同环境条件下使用。
非接触式测量：采用分光干涉式原理，无需接触被测物，减少对被测物的损伤。
可以从薄膜的一侧进行测量，适合测量透明涂膜

  • 产品型号：TOF-S
  • 厂商性质：经销商
  • 更新时间：2025-10-22
  • 访  问  量：54
立即咨询

联系电话：13823182047

详细介绍

高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪
高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪

TOF-S 是一款桌面型离线分光干涉式厚度测量装置，主要用于测量电子、光学用透明平滑薄膜和多层薄膜的厚度。以下是其特点和规格：

产品特点

  • 高精度测量：实现高重复性测量，精度可达±0.01微米以下（取决于被测物和测量条件）。
  • 温度稳定性：受温度变化影响小，适合在不同环境条件下使用。
  • 非接触式测量：采用分光干涉式原理，无需接触被测物，减少对被测物的损伤。
  • 反射型测量：可以从薄膜的一侧进行测量，适合测量透明涂层膜层的厚度（取决于测量条件）。
  • 适用范围广：适用于研究、检查用的离线类型以及生产过程中使用的在线类型。

技术规格

  • 测量厚度范围：
    • 薄物用：1～50微米
    • 厚物用：10～150微米
  • 测量长度范围：50～5000毫米
  • 测量间距：1毫米及以上
  • 最小显示值：0.001微米
  • 电源电压：AC100V，50/60Hz
  • 使用温度范围：5～45℃（测量时温度变化1℃以内）
  • 湿度范围：35～80%（无冷凝）
  • 测量面积：φ0.6毫米
  • 测量间隙：约30毫米

适用场景

  • 电子和光学领域：适用于测量电子和光学用透明平滑薄膜、多层薄膜等。
  • 研发和质量控制：可用于研究和开发过程中的厚度测量，以及生产过程中的质量控制。


留言询价

留言框

  • 产品：

  • 您的单位：

  • 您的姓名：

  • 联系电话：

  • 常用邮箱：

  • 省份：

  • 详细地址：

  • 补充说明：

  • 验证码：

    请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7

扫码加微信

邮箱：akiyama_zhou@163.com

传真：

地址：广东省深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路8号和健云谷2栋10层1002

Copyright © 2025 深圳秋山工业设备有限公司版权所有   备案号：粤ICP备2024238191号   技术支持：化工仪器网
sitmap.xml管理登陆

TEL：13823182047

扫码加微信