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toyoseiko电池材料原子缺陷检测仪非接触式正电子寿命测定装置（PSA），该设备依托正电子寿命测定法实现原子级微观缺陷检测，可实现亚纳米级（原子级别） 微小缺陷、空隙的精准评估，为材料微观结构分析提供依据；
产品型号：TypeL-ⅡAS/TypeL-Ⅱ厂商性质：经销商更新时间：2026-03-04访 问 量：14
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toyoseiko电池材料原子缺陷检测仪非接触式
toyoseiko电池材料原子缺陷检测仪非接触式
检测能力：可实现亚纳米级（原子级别） 微小缺陷、空隙的精准评估，为材料微观结构分析提供依据；
测量深度：针对钢材，可检测表面至约 50μm 深度的缺陷；
核心优势：非接触、非破坏性检测，且无需专业放射操作资格，可在普通实验室使用。
适用材料：钢铁、铝、钛等各类金属，以及玻璃、高分子等非晶质材料；
典型用途：可用于金属喷丸处理的品质确认、金属疲劳损伤的评估，也可拓展至半导体、电池材料的原子缺陷检测、高分子材料的自由体积评估等场景。
反符合（AC）系统：可辨别试样另一侧释放的正电子信号，无需将放射源夹在试样中间，单块试样也可测量，同时简化放射源操作，提升使用安全性；
自动设置系统：程序自动完成测量所需参数设定，完成后可立即启动测量，且能自动完成初步解析，操作便捷；
安全的放射源：使用符合《放射线障害防止法》规限值的密封 Na-22 正电子源（~1 MBq），无特殊使用资质要求。
| 型号 | 本体尺寸（mm） | 重量 | 特色 |
|---|---|---|---|
| TypeL-ⅡAS（自动进样款） | 490×490×350 | 约 50kg | 配 4/8 个 50×50mm 试样夹具，支持批量试样检测 |
| TypeL-Ⅱ（基础款） | 400×400×358 | 25kg | 小型精密，适配研究开发现场的小试样高精度测量 |
| TypeL-P（便携款） | 120×120×100 | 约 2kg | 超小超轻，笔记本电脑为选配，适配现场快速检测 |
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