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日本 MSA FACTORY 超小型珀尔帖式温度设备日本 MSA FACTORY PG 系列超小型珀尔帖式温度室，采用水冷 / 空冷珀尔帖技术，可实现 - 50℃~+150℃宽温区稳定控温，支持高速升降温与 N₂防结露功能，适配光学观测与电气特性测试场景。
产品型号：PG1504厂商性质：经销商更新时间：2026-04-16访 问 量：13
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日本 MSA FACTORY 超小型珀尔帖式温度设备 日本 MSA FACTORY 超小型珀尔帖式温度设备
电子元件、光学器件、半导体芯片的宽温区环境测试，模拟 - 50℃~+150℃的工作温度条件。
支持高速升降温（0.1℃~3℃/sec），可模拟温度冲击与梯度变化，评估材料与器件的热稳定性。
可选 N₂气体吹扫防结露功能，实现低温环境下的无结露光学观测与电气特性测试。
适配精密位移平台与电气测试基板，构建集成化温控测试系统。
| 功能模块 | 详细说明 |
|---|---|
| 宽温区珀尔帖控温 | 分为 - 40℃~+150℃（标准款）与 - 50℃~+150℃（-H 款）两种温区，采用水冷 / 空冷珀尔帖技术，低温性能远超传统空冷设备（空冷款- 10℃）。 |
| 高速升降温能力 | 可实现 0.1℃~3℃/sec 的温度梯度变化，支持快速升降温与温度冲击测试，满足动态热性能评估需求。 |
| N₂防结露设计 | 可选 N₂气体吹扫功能，向腔室内通入低露点空气或氮气，避免低温环境下样品结露，保障光学观测与电气测试的准确性。 |
| 光学观测适配 | 配备耐热玻璃上盖，可选透过型结构与 AR 镀膜石英玻璃，适配显微镜 / 光谱仪等光学器件评估系统。 |
| 低振动低噪音 | 珀尔帖式设计振动与噪音极小，水冷款冷却器与腔室分离，振动影响可忽略，适配精密测试场景。 |
| 多型号与定制化 | 提供 40×40mm/60×60mm 不同平台尺寸，可选无水冷 Ai 款（-20℃~+150℃）与 OP 系列扩展款，支持电气测试基板、XY 位移平台等定制化配置。 |
| 型号 | 温度范围 | 平台尺寸 | 冷却方式 | 防结露功能 | 电源电压 |
|---|---|---|---|---|---|
| PG1504 | -40℃~+150℃ | 40×40mm | 水冷 | 支持 N₂吹扫 | AC100V |
| PG1506 | -40℃~+150℃ | 60×60mm | 水冷 | 支持 N₂吹扫 | AC100V |
| PG1504-H | -50℃~+150℃ | 40×40mm | 水冷 | 支持 N₂吹扫 | AC100V |
| PG1506-H | -50℃~+150℃ | 60×60mm | 水冷 | 支持 N₂吹扫 | AC100V |
| PG1504-Ai | -20℃~+150℃ | 40×40mm | 空冷（无水冷） | - | AC100V |
| PG1506-Ai | -20℃~+150℃ | 60×60mm | 空冷（无水冷） | - | AC100V |
| PG1506-OP1 | -40℃~+150℃ | 60×60mm | 水冷 | 支持 N₂吹扫 | AC100V |
| PG1506-OP2 | -40℃~+150℃ | 60×60mm | 水冷 | 支持 N₂吹扫 | AC100V |
半导体与电子行业：芯片、PCB 板、电子元件的高低温环境测试、热冲击试验与电气特性评估。
光学与材料研究：光学器件、高分子材料的低温 / 高温光学观测、相变特性测试。
精密测试系统集成：搭配 XY 位移平台与电气测试基板，构建自动化温控测试平台。
高校与科研机构：材料热性能、器件可靠性等相关实验与教学研究。
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