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日本EMIC 表面磁场测量用高斯计设备

日本EMIC 表面磁场测量用高斯计设备日本 EMIC GMS-103 是专为磁粉探伤设计的手持式高斯计,符合 JIS Z 2320 标准,搭载双霍尔元件,支持外推法磁场估计与真有效值交流测量,可快速测定表面磁通密度,提升检测效率与精度。

  • 产品型号:GMS-103
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-04-30
  • 访  问  量:18
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详细介绍

日本EMIC  表面磁场测量用高斯计设备 日本EMIC  表面磁场测量用高斯计设备

产品概述
GMS-103 是 EMIC 专为磁粉探伤试验开发的表面磁场测定器,符合 JIS Z 2320 标准,通过一次测量即可估算目标表面磁场,缩短测试时间并提升检测精度,广泛应用于各类工业无损检测场景。
核心特点
  • 磁粉探伤专用设计:专为 JIS Z 2320 磁粉探伤试验优化,可直接测定试验对象的表面磁通密度,适配探伤工艺的磁场强度检测需求。

  • 外推法磁场估计:搭载 2 通道霍尔元件,支持外推法磁场估计,可通过单次测量估算目标表面磁场,无需复杂操作,提升检测效率。

  • 真有效值交流测量:支持真有效值交流测量,可准确测量 50~400Hz 频率范围内的交流磁场,适配不同探伤设备的磁场输出特性。

  • 便携电池供电设计:采用 AA 型电池供电,手持式设计便于现场操作,配备自动归零、显示保持、背光点亮等实用功能,提升使用便利性。

核心参数
表格
项目参数
测量范围0~31.83 kA/m
测量精度±0.5% 满量程
显示方式4 位数字显示
测量频率范围直流、交流(带域 50~400Hz)
功能自动归零(直流仅)、显示保持、背光点亮、低电量指示、自动关机
电源AA 型电池(碱性或镍氢充电电池)
工作温度范围10~40℃
应用场景
  • 各类工业磁粉探伤工艺的表面磁场强度检测

  • 金属构件无损检测中表面磁通密度的现场测量

  • 探伤设备的磁场输出性能校准与验证

  • 科研实验中表面磁场分布的快速评估

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