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日本 SEISHIN 微硬度测试仪器

日本 SEISHIN 微硬度测试仪器MHT-1 系列微硬度测试仪是专为微粒压碎强度测试设计的自动化装置,可对 40~400μm 微粒进行压缩试验,通过压头施加荷重并记录过程数据,计算压碎强度,适用于催化剂、树脂等粉体颗粒的强度分析。

  • 产品型号:MHT-1/MHT-1W
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-05-18
  • 访  问  量:22
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详细介绍

日本 SEISHIN 微硬度测试仪器 日本 SEISHIN 微硬度测试仪器

产品概述
MHT-1 系列微硬度测试仪是一款专为微粒强度测试开发的自动化设备,可通过更换测量台适配不同粒径范围(标准型 50~400μm,高分解型 40~120μm)的颗粒,通过压头施加荷重使粒子压碎,同步测量峰值荷重与粒子尺寸,计算压碎强度,并记录完整的压缩 - 破坏过程数据。
核心特点
  • 自动化测试流程:从样品投入、自动散布、单颗粒确认、压缩试验到平台与压头清洁全流程自动化,减少人工干预。

  • 多参数同步测量:可获取高度粒径、峰值载荷、位移、压碎强度、破坏强度、变形强度等关键数据,支持过程曲线与图像回溯。

  • 高分辨率配置:MHT-1W 高分解型配备更宽的下降速度调节范围(0.01~10μm / 秒),适合微小颗粒的精准测试。

  • 灵活适配性:可通过更换压头或测量台扩展粒径范围,称重传感器支持选配 5N/10N/20N 量程,满足不同测试需求。

核心规格参数
表格
项目MHT-1 标准型MHT-1W 高分解型
测量方式一定荷重方式一定荷重方式
适用粒径50~400μm(手动可测 1mm)40~120μm
下降速度1.0~10μm / 秒0.01~10μm / 秒
单次处理量最多 500 粒最多 500 粒
称重传感器1N(可选 5N/10N/20N)1N(可选 5N/10N/20N)
摄像头可选 207 万像素 CMOS标配高分辨率 CMOS
设备尺寸450×460×400mm450×460×400mm
设备重量约 25kg约 26kg
适用场景
  • 催化剂、分子筛等工业颗粒的压碎强度测试

  • 树脂、陶瓷粉体颗粒的力学性能分析

  • 微小颗粒(40~400μm)的自动化强度质量控制

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