日本 LAC 同轴单反微小光斑红外测温仪器

日本 LAC 同轴单反微小光斑红外测温仪器 日本 LAC 同轴单反微小光斑红外测温仪器

1. 产品概述

KTL 系列是 LAC 精密微小光斑红外放射温度计，采用同轴单反光学系统，最小可测 φ0.4mm 微小区域，适配芯片、微小元器件、高频加热线圈等微型工件测温；支持透过玻璃测量，响应速度 0.01~1.00s 可调，测温覆盖 200~3000℃多档量程；标配 RS232、0-10V、4-20mA 三路信号输出，可选蓝牙无线传输；配套 Windows 专业测温软件，支持峰值 / 谷值连续采集，手持主机兼顾实验室离线检测与产线固定在线监测，适配真空炉、半导体、高频热处理等高精密高温场景。

2. 完整硬件规格参数

量程型号区分

表格

型号测温区间核心适用场景

KTL - 专业200~2000℃通用金属、热处理工件

KTL-PRO-04300~2000℃φ0.4mm 微小金属件

KTL - 零 - A500~3000℃超高温熔炼、真空加热

KTL - 零 - B200~1200℃中温精密元器件

KTL - 零 - A-04700~3000℃微小超高温测点

KTL - 零 - B-04300~1200℃微小中温半导体芯片

测温核心性能

测量精度：满量程 ±1%（ε=1.0 标准发射率）

重复性：±1℃（ε=1.0）

发射率调节：0.10~1.00，0.01 步进精细调节

响应速度：0.01~1.00s 连续可调，极速捕捉瞬态温度

感光芯片：铟镓砷 InGaAs 传感器，分 0.9μm/1.6μm 双波长可选

光学结构：同轴单反式，测量角 0.45°，焦点可调 270mm~ 无穷远

最小光斑：φ0.4mm，微小元件精准测温

特殊能力：可穿透玻璃完成测温，适配真空密封腔体

测量模式与显示

显示：取景器内置数码屏 + 机身侧边面板双显示

测量模式：连续测量、2 路峰值保持、2 路谷值保持、自动重置峰值

峰值自动重置功能，流水线连续测温无需手动复位

信号输出与通讯

标准三路输出：RS-232C 数字通讯、DC0-10V 模拟、DC4-20mA 模拟

可选配件：Bluetooth 蓝牙无线数据传输

配套软件：Windows7/8/10 专用测温采集软件（标配）

供电、环境与物理尺寸

供电方案：

手持握把：DC10~15V 直流供电

固定在线：AC85~264V 宽幅交流适配器（30VA）

使用环境温度：0~50℃，无凝露工况

主机外形：W278×H103×D76mm，整机重量 1.4kg（不含握把）

3. 七大核心产品特点

φ0.4mm 超微小光斑

同轴单反精密光学，可测量极小芯片、引线、线圈，解决微型工件测温难点。

0.01 秒极速响应

毫秒级采样，适配高频感应加热、脉冲热压等快速温度变化工况。

玻璃透射测温功能

无需开腔，直接透过真空玻璃、石英玻璃测量内部工件温度。

三路标准信号输出 + 蓝牙可选

4-20mA/0-10V 直连 PLC 闭环，RS232 对接上位机，蓝牙无线移动端查看数据。

双峰值 / 谷值自动保持重置

自动记录高低温极值，流水线长时间监测无需人工复位。

双波长可选适配多材质

0.9μm 短波适配光亮金属，1.6μm 通用高温金属，减少发射率误差。

手持 / 固定两用设计

可选手持握把离线抽检，也可搭配支架固定在线 24 小时连续监测。

4. 典型应用场景

半导体芯片贴片测温、高频感应加热线圈温度监控、真空热处理炉、精密模具微小型腔测温、微电子元器件热压工艺、光学玻璃腔体高温检测、金属细丝 / 微小焊点温度采集、实验室高温材料热性能测试。