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日本 KMT 压电共振式弹性常数测定装置本款 CC 系列采用 RUS 压电共振固有振动法，可测试数毫米小尺寸单晶样品，测定弹性常数 Cij，换算杨氏模量、泊松比等参数。支持室温、高温、低温多工况机型，适用于各向异性单晶材料研究，满足材料实验室对晶体力学性能的精密检测需求。
产品型号：CC‑RT厂商性质：经销商更新时间：2026-08-24访 问 量：22
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日本 KMT 压电共振式弹性常数测定装置 日本 KMT 压电共振式弹性常数测定装置
采用压电加振与压电传感检测，RUS 共振超声法，对长方体小试样施加激励，采集 8 种振动模式共振信号，通过逆解析算法求解 36 个弹性常数 Cij；可自动换算杨氏模量、刚度系数、泊松比；支持各向异性单晶测量；覆盖宽共振频率区间；多型号覆盖高低温测试环境，试样仅需 5mm 左右方体小样，样品制备成本低，测试精度高。
CC‑RT：室温测试机型
CC‑HT：室温～1000℃高温机型
CC‑LT：‑180℃~ 室温低温机型
CC‑LHT：‑180℃~500℃高低温复合机型
用于等方晶、立方晶、六方晶、正方晶单晶样品的弹性常数 Cij、弹性模量、杨氏模量、刚度、泊松比测定；开展晶体材料力学基础研究，获取原子尺度胡克定律相关弹性参数。
高校材料实验室、科研院所、半导体材料、陶瓷晶体、金属单晶研发、无机新材料行业。
将样品加工为 5mm 角左右长方体试样，清洁样品表面；
将试样放置于驱动、检出两组压电元件之间，稳固夹持；
根据测试需求选择对应温度机型，设置测试温度条件；
设备压电元件施加激励，采集共振频率信号；
软件采用逆解析法运算，输出弹性常数、杨氏模量、泊松比等结果；
测试完成取出样品，做好压电元件清洁，定期校验设备。
表格
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品名称 | 压电共振式弹性常数测定装置 CC 系列 |
| 测量方式 | 压电共振式固有振动法（RUS 法） |
| 加振 / 检测 | 压电加振、压电传感器检测 |
| 共振频率范围 | 300kHz‑2.0MHz |
| 测量项目 | 弹性常数 Cij、杨氏模量、刚度、泊松比 |
| 适用样品 | 等方晶、立方晶、六方晶、正方晶单晶 |
| 样品形状 | 5mm 角左右长方体 |
| 机型 | CC‑RT（室温）、CC‑HT（室温‑1000℃）、CC‑LT（‑180℃‑室温）、CC‑LHT（‑180℃‑500℃） |
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