日本 JEOL 桌上型元素分析扫描电子显微镜

日本 JEOL  桌上型元素分析扫描电子显微镜 日本 JEOL  桌上型元素分析扫描电子显微镜

1. 型号

型号：JCM-7000Plus NeoScope™ 桌上走查电子显微镜（台式扫描电镜 SEM），品牌 JEOL 日本电子。

2. 产品性能

本机为升级款台式 SEM，新增 20kV 加速电压，高真空模式下二次电子图像分辨率可达 6nm，搭载升级自动图像调整功能，自动完成聚焦、像差、亮度、对齐。支持高真空、低真空两种模式；低真空模式可直接观测样品，无需喷金预处理。具备 4 大 Live 实时观测功能：实时元素分析、元素分布地图、实时 3D 形貌重建、活体粒子自动粒径测量。可选 NeoAction 自动化模块，预设测量流程，自动完成多位置观测、图像采集、元素分析并自动生成报告，实现无人化重复测试。配套 Zeromag 功能，可从光学图像无缝定位 SEM 观测视野。

3. 参数表

表格

4. 用途 & 适用行业

• 粉体行业：氧化硅、氧化锌颗粒粒径自动统计、形貌观测

• 电子行业：电子元器件截面、失效分析、元素分布检测

• 材料行业：金属断口形貌、纤维、复合材料微观结构观察

• 质检领域：建材、高分子、矿物样品的微观形貌 + EDS 元素定性分析

5. 使用说明

1. 样品放置：样品固定于样品台，确认样品尺寸不超过最大规格；导电不良样品可选用低真空模式，免喷金。

2. 视野定位：使用 Zeromag 光学预览，选定目标观测区域，一键切换至 SEM 视野。

3. 参数设置：选择高 / 低真空模式，设置加速电压，设备自动图像校准。

4. 观测分析：采集形貌图像，开启实时 EDS 元素分析、元素 mapping、3D 重构；粉体样品启用粒子自动测量。

5. 自动化测量（选配 NeoAction）：预先录制测试流程，设备自动执行多点观测、数据采集、报告导出。

6. 测试结束，保存图像与分析数据，取出样品，关机保存设备状态。

6. 适用行业

半导体、电子元器件、新材料、粉末冶金、高分子、涂料、环境检测、质检实验室、高校科研。