日本oji-keisoku超高相位差双折射测量装置 PAM-UHR100 本装置以透明试样为对象，通过平行尼可光谱法测定数千至2万nm左右的相位差及取向角。通过输入薄膜厚度，自动计算双折射N。

日本oji-keisoku光轴测量装置配向角位相差 PAM-PR300 对光学薄膜偏振轴方位、取向角及相位差值进行测定 无需个人差异，可简便且短时间内测量

日本oji-keisoku相位差测量平行尼科耳旋转 KOBRA-WFD0系列 1.从超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的广泛测量范围2.高精度的测量特别是取向角的高精度化，实现长期稳定的测量3.日常维护，减少消耗部件标准采用LED光源，无需更换光源灯4.与KOBRA-W系列共用样品支架、可选夹具可共用5.考虑操作性与KOBRA-W系列相比较大的开口部

日本oji-keisoku相位差/椭球偏振测量装置 KOBRA-HB系列 1.从超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的广泛测量范围2.高精度的测量特别是取向角的高精度化，实现长期稳定的测量3.日常维护，减少消耗部件标准采用LED光源，无需更换光源灯4.与KOBRA-W系列共用样品支架、可选夹具可共用5.考虑操作性与KOBRA-W系列相比较大的开口部

日本进口osp-inc手持式VOC测量装置多功能 这是一种方便快捷的测量装置，可以轻松、快速地现场检测石油基、氯基等VOCs的总浓度。 内置泵可实现地表气体测量和从钻孔（10m深等）直接抽吸测量，使其成为简单检查和初步筛选的理想选择。

日本mitaka非接触式微透镜阵列三坐标测量机 MA系列 配备了NH系列的所有基本形状测量功能，可以测量透镜和模具的横截面形状，并使用专用软件一次性测量曲率和中心坐标。

日本mitaka非接触三维轮廓高精度测量装置 MLP系列 MLP-3 专门从事传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的复杂测量。点自动对焦探头和每个轴的控制（包括旋转）解决了困扰测量人员的问题。

日本mitaka非接触三维测量装置高精度耐磨损 NH系列 NH系列实现了高精度和易用性， 解决了过去的测量问题。 ・可在不损坏测量对象的情况下进行测量 ・擅长测量陡峭的斜坡和大的凹凸不平 ・直接测量镜面和透镜等透明物体