日本toadkk面板式电导率仪用于半导体测量 WBM-100 紧凑的 DIN96 尺寸 微电脑计算温度补偿 具有细胞常数调节功能 可显示水温

日本ceramic forum半导体分析装置测量结晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度测量结晶缺陷导致的电子状态的良好方法。 即便是内在微小的杂质或格子缺陷也会很大程度上影响半导体材料性能，所以此类测量非常重要。

日本ceramic forum晶片内位错检测仪便携式 Crystalline Tester CS1 ”Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光（波长400～800nm）透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。

日本RikenKeiki光波干涉式气体监测仪高性能 FI-8000 ・一台设备最多可测量 8 种气体 ・两种吸入方式可供选择： 　内置泵自动吸入型 / 手持式吸气器手动 　吸入型 ・配备间歇测量模式（仅限自动吸入型） 　记录浓度值和时间，可在主机上查看气体浓度变化 - 易于阅读的大液晶屏清晰　显示 　待测气体类型、气体浓度、测量单位和剩余电池电量

日本RikenKeiki便携式多气体监测仪多功能 GX-6000 ・国内制造商能够用一台设备同时 　检测 ・适合根据工业安全卫生法 　检查！ ・可通过PID传感器测量200种以上的目标化学物质 ・可进行多语言显示（日语/英语/法语/西班牙语等） ・配备紧急警报功能和LED灯等方便的新功能

日本理研rikenkeiki智能型多气体检测装置 GD-84D系列 ・将 4 个检测器整合为 1 个单元，实现成本削减高达 1/4 ・采用高性能泵 ・配备智能自诊断功能 ・兼容以太网 (PoE) [4-20mA 规格] GD-84D-EC , GD -84D 【ET规格】GD-84D-ET-EC、GD-84D-ET 【EA规格】GD-84D-EA-EC、GD-84D-EA

日本rikenkeiki理研便携式四组分气体检测仪 GX-Force ・约 300g 的轻量化设计，易于抓握的握把设计 ・连续使用时间约 30 小时 ・通过 3m 跌落测试 ・防爆防压结构 ・相当于 IP67 防护等级

日本理研rikenkeiki便携式多气体检测仪防爆 GX-9000系列 ・同时检测多达 6 种气体 ・防爆、防尘、防水（相当于 IP66/68）结构，可抵抗 1.5m 跌落 ・配备蓝牙®！使用智能手机轻松管理数据