日本NPC手持式非接触式面电阻测试仪高精度 sigma-5+ 探头接触样品即自动开始测量 可通过JOG旋钮快速设定测量条件 5种测量范围探头可根据样品电阻率进行更换 可选配P/N型判定量测功能 应用：硅片样品， 化合物半导体， 外延层， 扩散层， 碳化硅， 薄膜材料， 金属膜， ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC电阻率测试仪测量仪器高精度多功能 sigma-5+ 这是一款手动型测量仪器，采用四探针法，可轻松准确地测量太阳能电池用硅片、液晶基板、金属薄膜等的方块电阻或体积电阻。它支持从低电阻到高电阻的各种测量。 1) 用于硅锭制造→晶圆制造工序（成膜等各工序）的产品检查　 2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜时的产品检查 3) 用于各种导电材料制造过程中的产品检验

日本Toadkk便携式离子计检测仪带背光功能 pH/ORP 纤薄设计，易于握在手中 具有背光功能 省电设计，也可使用充电电池 防水结构（IP67：1 m，可浸泡 30 分钟） 数据记忆功能（1500个数据）

日本toadkk面板式电导率仪用于半导体测量 WBM-100 紧凑的 DIN96 尺寸 微电脑计算温度补偿 具有细胞常数调节功能 可显示水温

日本ceramic forum半导体分析装置测量结晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度测量结晶缺陷导致的电子状态的良好方法。 即便是内在微小的杂质或格子缺陷也会很大程度上影响半导体材料性能，所以此类测量非常重要。

日本ceramic forum晶片内位错检测仪便携式 Crystalline Tester CS1 ”Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光（波长400～800nm）透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。

日本RikenKeiki光波干涉式气体监测仪高性能 FI-8000 ・一台设备最多可测量 8 种气体 ・两种吸入方式可供选择： 　内置泵自动吸入型 / 手持式吸气器手动 　吸入型 ・配备间歇测量模式（仅限自动吸入型） 　记录浓度值和时间，可在主机上查看气体浓度变化 - 易于阅读的大液晶屏清晰　显示 　待测气体类型、气体浓度、测量单位和剩余电池电量

日本RikenKeiki便携式多气体监测仪多功能 GX-6000 ・国内制造商能够用一台设备同时 　检测 ・适合根据工业安全卫生法 　检查！ ・可通过PID传感器测量200种以上的目标化学物质 ・可进行多语言显示（日语/英语/法语/西班牙语等） ・配备紧急警报功能和LED灯等方便的新功能