
PRODUCT CLASSIFICATION
产品分类日本atomax汽车精密零件涂布二流体喷嘴 AM系列喷嘴(AM6/AM12/AM25/AM45): 能够产生平均粒径约5μm的超微粒子。 适用于表面薄膜涂层、科学医疗领域中的极少量喷雾、室内及设施的杀菌消毒等。 AM6和AM12型适合极少量流量的微粒子喷雾。
2025-10-15
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110
日本atomax电子基板精细涂布二流体喷嘴 能够产生平均粒径约5μm的超微粒子。 适用于表面薄膜涂层、科学医疗领域中的极少量喷雾、室内及设施的杀菌消毒等。 AM6和AM12型适合极少量流量的微粒子喷雾
2025-10-14
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125
日本otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪 分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性
2025-10-13
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147
otsuka大塚透明电极材料膜厚仪涂层测厚仪 显微分光膜厚仪 OPTM series 是一种高精度的膜厚测量设备,适用于各种材料和应用场景。它的特点包括: 高精度测量:能够精确测量膜厚,适用于需要高精度控制的工艺。 非破坏性测量:无需破坏样品即可进行测量,适用于质量控制和研发。 多功能性:适用于多种材料和膜层,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用户界面友好,操作简便。
2025-10-13
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117
日本otsuka大塚DLC涂层厚度测量仪膜厚仪显微分光膜厚仪 OPTM series 是一种高精度的膜厚测量设备,适用于各种材料和应用场景。它的特点包括: 高精度测量:能够精确测量膜厚,适用于需要高精度控制的工艺。 非破坏性测量:无需破坏样品即可进行测量,适用于质量控制和研发。 多功能性:适用于多种材料和膜层,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用户界面友好,操作简便。
2025-10-13
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113
日本otsuka大塚FPD彩色滤光片薄膜测厚仪 显微分光膜厚仪 OPTM series 是一种高精度的膜厚测量设备,适用于各种材料和应用场景。它的特点包括: 高精度测量:能够精确测量膜厚,适用于需要高精度控制的工艺。 非破坏性测量:无需破坏样品即可进行测量,适用于质量控制和研发。 多功能性:适用于多种材料和膜层,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用户界面友好,操作简便。
2025-10-13
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105
日本otsuka大塚非接触式显微分光膜厚仪 显微分光膜厚仪 OPTM series 是一种高精度的膜厚测量设备,适用于各种材料和应用场景。它的特点包括: 高精度测量:能够精确测量膜厚,适用于需要高精度控制的工艺。 非破坏性测量:无需破坏样品即可进行测量,适用于质量控制和研发。 多功能性:适用于多种材料和膜层,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用户界面友好,操作简便。
2025-10-13
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129
日本otsuka大塚手持式金属镀层膜厚仪 特点: 手持式,便于携带至现场 测量精度达到0.1μm单位 适用于具有形状的样品,可进行非破坏性测量 可测量不同基材材质上的镀膜
2025-10-13
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110