日本 JFE 光谱干涉二维膜厚分布测量仪JFE FiDiCa FDC-S 是二维光谱干涉式全域膜厚测量设备，非接触无损检测，分薄膜、厚膜、极厚膜三类机型，覆盖 50nm~800μm 全区间；2 分钟内完成百万～四百万点高速测绘，输出完整膜厚分布云图，适配 4~12 英寸晶圆、PET 薄膜、玻璃基板，支持台式离线与产线在线定制，兼顾研发实验与量产缺陷筛查。

日本 EWIG PET 瓶全自动红外壁厚测量仪日本 EWIG PA-2000SA 采用红外黑体光源非接触测量，专为 PET 塑料瓶开发全自动壁厚巡检设备。可沿瓶身高度、圆周多点自动巡回测厚，测量范围 0.1～1.5mm，重复精度 ±10μm；软件支持 999 组测试配方存储，批量数据自动统计，支持 CSV 导出，选配组件兼容宽口瓶，广泛用于吹瓶行业壁厚均匀性管控。

日本 YAMABUN 夹持金属薄板厚度波动测量仪日本 YAMABUN TOF-M 台式离线接触式厚度测量仪，专为短条状裁切钢板、铝板等金属薄板开发，采用上下夹持式线性千分尺结构。量程 0.1~0.5mm，分辨率 0.1μm，最小 0.1mm 密集采样间距；搭载自动输送机构保障测试重复性，全程连续扫描采集厚度曲线，测量数据自动存储至电脑，适用于金属板材轧制工艺离线抽检。

日本 YAMABUN 台式接触胶片薄膜厚度测量仪日本 YAMABUN TOF-5R01 台式离线接触式厚度测量仪，专为超薄胶片、精密薄膜设计，采用线性测微器单点接触测量。量程 0.02~0.2mm，分辨率高达 0.1μm，恒定 0.3N 测试压力；自动移送采样消除人为误差，测量数据可自动存储至电脑，支持生成厚度分布雷达图，适用于薄膜研发与品质管控。

日本 AND DIC 数字图像相关光学应变测量仪AND ONE 系列配套 Tensilon RTH/RTI 万能试验机，CCD 相机非接触式测量伸长应变，无需夹持探针不损伤试样；仅需简易标记即可高精度跟踪，3 款像素可选，采样 30~100Hz，支持弯曲、泊松比、DIC 全场应变分析，适配薄膜、橡胶、金属薄板等高延伸材料，数据同步接入 TACT 分析软件。

日本 TECMAN 扫描台式塑料颗粒形状测量仪日本 TECMAN EP-SCAN 塑料颗粒形状测量仪，平板扫描式轻量化实验室设备，搭配专用分析软件，自动测算塑料颗粒长宽、圆度、截面积等形貌参数，生成尺寸分布直方图；整机便携易摆放，仅需电脑 USB 供电，用于造粒工艺研发、颗粒均匀度定量检测与数据存档追溯。

日本 Pearl 透镜曲率半径偏心综合测量仪日本 Pearl 帕尔光学 RCM 系列曲率偏心二合一测量仪，分 RCM-2 短半径经济型、RCM-10 全量程旗舰款；一台设备同步测曲率半径与光轴偏心，自动运算判定 OK/NG，CSV/JPG 数据自动存档，RCM-10 四模组覆盖 ±1mm 至无穷远全部球面镜片，是透镜量产综合质检专用设备。

日本 Pearl 相机镜头法兰距角度测量仪日本 Pearl 珍珠光学 AC 系列自准直仪，分 AC-80/140 可动款与 AC-80F/140F 固定款，80/140mm 两种焦距，内置自准棱镜光路，可测镜头平行度、焦距、法兰背距；带多类光学标板，整机 12kg 桌面小型化，用于微型、工业镜头研发与产线质检。