Devices and Services台式半球发射率测量仪D&S AE1 发射率测量仪配套 RD1 数字电压表，符合 ASTM C1371 标准，用于测试材料半球发射率。仪器无需加热待测样品，预热 30 分钟后可快速检测，测量重复性可达 ±0.01 发射率单位，支持小尺寸、非平面样品检测，选配定制适配器，广泛用于涂层、保温材料、航天材料热物性实验室检测。

日本 Spotron 点焊电极压力测量仪用于电阻点焊电极压力检测，密闭式液压结构，精度 ±3% F.S.。无需外接电源，柔性软管结构适配复杂工位，绝缘受压部件，带峰值置针记录。配套专用收纳硬壳，支持 kN 国际单位读数，保障点焊工艺质量管控。

日本 AcroEdge 树脂固化收缩应力测量仪Custron EU201C‑Pro 树脂固化收缩应力测量仪，符合 ISO4216:2021 标准，可连续实时监测树脂固化全过程收缩因子与内部应力。支持加热、冷却、UV 照射编程，0.1 秒间隔高速采集数据，适配 UV 固化、热固化树脂、胶粘剂、油墨等材料，助力材料配方研发与工艺评估。

日本 Thermera 非接触二维温度分布测量仪日本 Thermera 双色热成像相机系统，依托双色算法，几乎不受发射率影响，无需校正即可完成非接触二维温度分布测量。支持实时测温与离线解析，可透过玻璃观察窗测量，覆盖 300‑2500℃多档温区，适配燃烧、焊接、热处理等高温工况，配套专业软件实现图像记录、温度曲线与 CSV 导出。

大冢电子 Zeta 电位粒径分子量测量系统ELSZneo 是大冢电子多功能测量系统，可完成 Zeta 电位、粒径、分子量多维度检测。采用动态、电泳、静态光散射原理，粒径测量 0.6nm‑10μm，分子量 340‑2×10⁷。支持粒子、平板、薄膜样品，适配高低浓度试样，温度可控，广泛用于材料、医药、化工等科研领域。

日本 Trinity-Lab 旋转式摩擦磨损测量仪日本 Trinity-Lab TL204Tt 旋转式摩擦磨损测量仪，采用球盘 / 销盘测试方式，可精准测定静、动摩擦系数。搭载专用 Tribo 解析软件，自动采集存储数据，设备结构紧凑性价比高，广泛用于材料、涂层、高分子等领域开展摩擦、耐磨性能评估。

日本 Trinity-Lab 手持式探针摩擦测量仪Trinity-Lab TL701 手持式探针摩擦测量仪，便携设计，可现场测试样品摩擦阻力与垂直压力，实时计算摩擦系数。配备多种可更换接触子，支持手指、舌头仿生触感模拟，内置加速度传感器实现倾斜补偿，广泛用于材料触感、口腔触感、表面滑动性能评估。

日本 Trinity-Lab 速度变化型摩擦测量仪日本 Trinity-Lab μV1000 速度变化型摩擦测量仪，单次测试可施加 7 档速度，检测不同速度下静、动摩擦系数与粘滑现象。搭载交流伺服电机与触控操作，支持多模式测试，配套专业分析软件，数据以 CSV 格式输出，广泛用于材料表面摩擦特性评价。