日本bunkoukeiki光谱仪高精度测量单色仪

日本bunkoukeiki光谱仪高精度测量单色仪 M25 特点介绍

光学装置采用我们的改良车尔尼-特纳安装座，可最大限度地减少多重衍射造成的杂散光。

由于光学系统的像差很少，因此可以在每个波长上获得高度对称的光谱。

由于衍射光栅更换方便且更换重现性好（±0.1mm以内），因此可作为宽带光谱仪（单色仪）使用。（200nm 至 25μm）

由于可以进行氮气吹扫，因此也可以在红外区域使用。

光学系统采用宽有效面积的衍射光栅，F=4.3时明亮，像差小，出射光在各波长上具有良好的对称性，从而获得更高的分辨率。

机构和操作简单且坚固，因此耐冲击和振动，狭缝机构几乎没有间隙，可实现高精度测量。

由于输入和输出狭缝位于相对侧，因此很容易与其他光学系统和特殊配件结合使用，从而使您能够创建适合您预期用途的光谱系统。

通过安装步进电机波长驱动装置（可选），可以使用外部脉冲信号或GP-IB进行控制。

日本bunkoukeiki光谱仪高精度测量单色仪 M25 规格参数

光学系统类型 不对称改进的 Czerny-Turner 安装系统  

 焦距 250毫米 

 孔径比 F=4.3 

 衍射光栅 标记线有效面积 52 x 52 mm 

 光波长范围 200～1400nm 　 

 机械波长范围     0～1400nm　 

 解决 0.1nm（半宽） 

 波长扫描法 正弦杆机构/波长线性扫描 

 波长驱动方式（可选） 步进电机驱动 

 波长精度 ±0.1nm（从正向设定） 

 波长显示 计数器显示最小1nm，最小刻度0.1nm 

 波长重现性 ±0.1nm（从正向设定） 

 杂散光 1×10 -4以下（ λ 0 ±5 nm ，λ 0 =546.1 nm ） 

 输入/输出狭缝 宽度：0～4mm（双开口对称，连续可变，最小读数刻度0.01mm） 

 筛选 手动滑动方式（最多可安装6种）*紫外线、红外线可选