日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等 AC-5/AC-3能够使用平板开放式计数器对高达 4000 cps 的光电子进行计数能够安装尺寸达 180 x 180 毫米的大型样品任何位置都可以通过点测量进行测量。使用样品更换器 (*) 可自动测量多达 25 个板状或粉末状样品。通过使用Xe(氙)灯(*),可以高灵敏度地测量不易产生电子的
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日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等 AC-5/AC-3 特点介绍
能够使用平板开放式计数器对高达 4000 cps 的光电子进行计数
能够安装尺寸达 180 x 180 毫米的大型样品
任何位置都可以通过点测量进行测量。
使用样品更换器 (*) 可自动测量多达 25 个板状或粉末状样品。
通过使用Xe(氙)灯(*),可以高灵敏度地测量不易产生电子的
日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等 AC-5/AC-3 规格参数
有机EL和复制感光材料的电离势测量
硬盘和磁带摩擦学研究
半导体和引线框架表面氧化态的测量
精密电子材料中分子级薄膜污染检测
测量以下功能材料的电离势:
有机EL、有机太阳能电池、有机晶体管、复印感光材料、钙钛矿太阳能电池、量子点、碳纳米材料、催化剂材料、蓄电池、燃料电池、半导体材料(Si、GaN) 、GaAs等)、透明导电膜(ITO、FTO等)
4000cps
光谱仪 光栅式单色仪
最大样本量 面积180×180mm以下,厚度1±0.2mm以下
温湿度范围 温度范围15-35℃,湿度20-60%RH
电源 AC100V-240V
50/60Hz 5A (MAX)
*不包括控制电脑
外形尺寸 光源部分 LC-1:约 450(W) x 300(H) x 500(D)mm
测量部分 DC-1:约 600(W) x 380(H) x 500(D)mm
重量 光源部分 LC-1:约 35 kg
测量部分 DC-1:约 50 kg *不包括控制 PC