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薄膜研发用离线静电容量式非接触式测厚仪

薄膜研发用离线静电容量式非接触式测厚仪
测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。
测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。
快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

  • 产品型号：TOF-C2
  • 厂商性质：经销商
  • 更新时间：2025-10-21
  • 访  问  量：46
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联系电话：13823182047

详细介绍

薄膜研发用离线静电容量式非接触式测厚仪
薄膜研发用离线静电容量式非接触式测厚仪

  • 电容式非接触测量：采用电容式传感技术，通过测量极板间介电常数的变化来确定厚度，是非接触式测量方式。这种方式特别适用于难以用接触式测量的薄膜，即使表面状况粗糙，也可以进行测量。
  • 自动介电常数设置功能：具有自动介电常数设置功能，简化了操作流程。

测量性能

  • 高测量分辨率：测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。
  • 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。
  • 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

操作与数据处理

  • 操作简单：用户无需复杂的培训即可熟练操作。
  • 数据实时显示与保存：测量数据可以实时显示在屏幕上，并自动保存在个人电脑上，便于用户进行数据管理和分析。

适用性

  • 适用材料广泛：适用于薄膜、粘性保护膜、防尘膜等多种材料，在半导体薄膜、柔性电路板、MLCC电容器等领域有广泛应用。
  • 环境适应性强：工作温度范围为5-40°C（测量时温度变化1°C以内），湿度范围为35-80%（无冷凝）。
製品の特徴

  • 計測分解能が高い

  • 非接触式のため接触式では計測が困難なフィルムに最適です

  • 表面状態が粗面でも計測可能です

  • 坪量計測

  • 簡単操作（自動誘電率設定機能付）

製品の仕様
測定厚さ～500 μm
測定長さ10～10000 mm
測定ピッチ1 mm～
最小表示値0.01 μm
電源電圧AC100V 50/60Hz
使用温度範囲5～40℃（測定時温度変化1℃以内）
湿度35～80％（結露無きこと）


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