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日本ihara半导体光掩膜透光率测量仪

日本ihara半导体光掩膜透光率测量仪
支持彩色薄膜测量（不仅限于黑白）
厚度适应性强：标准支持1mm以内厚度，特殊需求可定制
高精度测量：微小区域也能精确测量

产品型号：T5 plus
厂商性质：经销商
更新时间：2025-11-18
访问量：15

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联系电话：13823182047

详细介绍

日本ihara半导体光掩膜透光率测量仪
日本ihara半导体光掩膜透光率测量仪

一体化设计：

便携式设计，内置测量工作台
无需外接设备，现场使用方便
支持多种材料测量

主要测量对象与应用

测量材料：

薄膜类：各种塑料薄膜、光学薄膜
玻璃材料：光学玻璃、石英玻璃
树脂材料：透明树脂、塑料片材

典型应用场景：

医疗影像：

医疗用X光胶片透過濃度管理
确保诊断影像质量

电子工业：

显示器用光掩模透過率管理
半导体制造用掩模版检测

建材行业：

壁纸、薄膜的隐蔽性评估
涂料遮盖力测试

工业材料：

溶剂、胶粘剂固化后透過率测定
铝蒸镀薄膜遮光性确认

包装行业：

食品包装薄膜遮光性能检测
电子仪器盖片透過率测量

技术原理

透過濃度（OD值）计算：

透過率公式：τ = Φj / Φi（透射光通量/入射光通量）
透過濃度公式：D = -log10(Φj / Φi)
显示方式：OD值显示，便于理解

宽范围测量：支持彩色薄膜测量（不仅限于黑白）
厚度适应性强：标准支持1mm以内厚度，特殊需求可定制
高精度测量：微小区域也能精确测量

主要测量对象：薄膜、玻璃、树脂

■用途多种多样

① 医用胶片的透射密度管理

② 面向显示屏及半导体光掩膜的透光率管理

➂ 建材用途的壁纸、薄膜及涂料的遮盖性（隐蔽性）评估

④ 溶剂·粘合剂固化后的透过率测量

⑤ 点心包装等铝蒸镀薄膜的遮光性确认

⑥ 电子仪器用覆盖薄膜的透过率测量

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日本ihara半导体光掩膜透光率测量仪

主要测量对象与应用

技术原理

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