Oji Keisoku光学薄膜相位差椭圆偏振测量仪

Oji Keisoku光学薄膜相位差椭圆偏振测量仪
Oji Keisoku光学薄膜相位差椭圆偏振测量仪

1. 测量方式

• 平行尼科尔旋转法
• 旋转偏振器法
• 平行尼科尔光谱法（可扩展 400-800 nm 连续光谱）
  三种方法集成在一台主机内，用户可按样品特性一键切换 。

2. 测量范围与精度

• 相位差：2 nm – 20 000 nm（超低到超高全覆盖）
• 取向角（慢轴角）
  – 分辨率 0.001°
  – 重复性 ≤0.05°（标准样品 10 次测量 3σ）

1. 超宽量程
   1 nm 起步， 20 000 nm（≈ 20 µm），覆盖 OLED 圆偏光片超低相位差（< 10 nm）到厚液晶盒、补偿膜大相位差（> 5 000 nm）全区间。
2. 高精度与重复性
   相位差分辨率 0.001 nm，重复性 3σ ≤ 0.03 nm（150 nm 标准片，590 nm 波长）；取向角分辨率 0.001°，重复性 3σ ≤ 0.005°。
3. 三合一测量法
   ① 平行尼科尔旋转法——常规高速面内 mapping；
   ② 旋转偏振器法——一次旋转即可得椭圆率 ψ、Δ；
   ③ 平行尼科尔光谱法——400–800 nm 连续谱，给出波长色散曲线。
4. 免维护 LED 光源
   标准 450/500/550/590/630/680 nm 六波段，400–800 nm 分光可选；LED 寿命 > 20 000 h，无需换灯。
5. 尺寸紧凑、开口大
   机身 W300 × D700 × H475 mm，比旧款 KOBRA-W 系列体积减小 40 %；样品窗开口加大，偏光板、100 × 100 mm 大片可直接插入。