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日本EPI电子凸台载带用高速剥离强度测试仪

日本EPI电子凸台载带用高速剥离强度测试仪
最长7.5m剥离测试:在紧凑的台式机身内实现超长剥离距离
恒定剥离角度:确保测量数据的高度再现性和准确性

  • 产品型号:PTS-5000K
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-03-03
  • 访  问  量:11
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详细介绍

日本EPI电子凸台载带用高速剥离强度测试仪

日本EPI电子凸台载带用高速剥离强度测试仪

核心特点

1. 高速测量能力

  • 速度:可达 15m/min(标准型为300mm/min)
  • 间距进给功能:支持按载带口袋间距(pitch)自动进给测量
  • 高效率:适合生产线快速检测需求

2. 数据测量与记录

  • 测量点数6000点 数据记录
  • 模拟输出:配备 BNC连接器,支持模拟信号输出,便于外部设备集成
  • 实时监测:测量过程中实时显示剥离曲线

技术规格

参数规格
适用带宽8~56mm
强度测定范围0~2N(0~200gf)
分辨率0.001N(0.1gf)
测定速度120mm/min ~ 15m/min(高速范围)
剥离角度165°~180°(恒定角度保证再现性)
数据记录USB闪存传输
显示液晶触摸屏(日文/英文/中文)
统计分析值、最小值、平均值、标准偏差、CPK
电源AC100V~240V 50/60Hz
外形尺寸约 W310×D465×H250mm
重量约 9kg

PTS-5000K继承了EPI的省空间剥离机构
  • 最长7.5m剥离测试:在紧凑的台式机身内实现超长剥离距离
  • 恒定剥离角度:确保测量数据的高度再现性和准确性
  • 符合JIS标准:满足JIS C0806-3等国际标准要求

操作与数据管理

操作界面

  • 触摸屏操作:直观设置测试条件
  • 多语言支持:日文、英文、中文界面可切换
  • 单位切换:gf(克力)与N(牛顿)显示可切换

数据输出

  • 内置打印机:可输出图表、数值、测量条件、编带条件
  • USB数据传输:支持向PC传输数据进行进一步分析
  • 实时图表显示:测量过程中屏幕实时显示剥离力曲线

应用领域

  • 半导体封装:IC、芯片载带盖膜高速剥离测试
  • 电子元器件:SMT元件(电阻、电容等)包装质量检测
  • 生产线在线检测:高速批量检验与CPK分析
  • 研发实验室:材料剥离特性高速评估



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