日本TOPCON成像式2维分光辐射计光谱分析仪

日本TOPCON成像式2维分光辐射计光谱分析仪

日本TOPCON成像式2维分光辐射计光谱分析仪

主打高分辨率、高量程、双模式测量的 2D 分光辐射计，核心以非接触、无破坏方式实现 “点测量级精度 + 面测量级效率"，覆盖光源光谱、材料光学特性等多维度检测，适配显示技术、汽车照明、材料研发、生物医疗等领域，是兼顾科研与工业品质管控的光学分析工具，以下是核心内容总结：

2. 核心技术参数

• 成像与测量基础：搭载 500 万像素彩色 CMOS 图像传感器（有效像素 2448×2048），支持两种测量模式，兼顾精度与效率：

• 分光模式：波长范围 380~780nm，波长精度 ±0.5nm（Hg 波宽线、高精度模式），光谱半波宽 7nm，波长分解能力 1nm，亮度测量范围 0.5~170 亿 cd/m²，满足高灵敏度光谱分析；

• XYZ 模式：亮度测量范围 0.005~100,000cd/m²，适配常规亮度 / 色度快速检测；

• 测量精度：

• 分光模式：亮度直线性 ±2% 以内，色度直线性 ±0.0025~0.0035 以内（因型号略有差异），面内 MURA 均匀性（亮度 ±2%、色度 ±0.003 以内）；

• XYZ 模式：亮度直线性 ±3.0~3.5% 以内，色度直线性 ±0.003~0.009 以内，重复精度（亮度 0.35~0.9% 以内、色度 0.002~0.009 以内）；

• 数据与连接：配备 USB3.0 接口与外部垂直同步信号输入，支持高速数据传输与同步控制；需连接电脑使用，单次全尺寸测定文件容量约 8GB；

• 环境与供电：使用温度 0~35℃，湿度 80% R.H. 以下（无凝露）；采用专用 AC 电源适配器（AC100V-240V 50/60Hz）供电，功率约 20W。

二、产品核心特点

1. 高精度与高量程兼备：500 万像素实现 500 万点同步检测，1nm 波长分解能力 + 170 亿 cd/m² 超高亮度量程，精度媲美单点式分光辐射计，可捕捉微弱光谱差异与强光源特性；

2. 双模式灵活切换：分光模式侧重高精度光谱分析，XYZ 模式侧重快速亮度 / 色度检测，按需选择适配不同检测场景，兼顾科研深度与工业效率；

3. 非接触无破坏检测：无需接触被测对象，避免对精密器件（如 Micro LED 芯片）、生物样本（如病理组织）造成损伤，适配脆弱或不可触碰样品；

4. 多维度检测能力：可测量光源光谱特性、材料分光穿透率、物体分光反射率，同时支持吸收、反射、穿透特性分析，覆盖光学检测全需求；

5. 溯源校准与系统适配：支持可追溯性光源校正，保证数据准确性；标配专用软件，兼容 Windows 10 Pro（64bit）系统，需搭配 Intel Core i7-4770 以上 CPU、16GB 以上内存的电脑使用。

三、核心适用场景

1. 显示技术领域：LCD、OLED、QD、激光、Micro/Mini LED 及关联材料的亮度、色度、分光光谱评价；

2. 汽车领域：汽车仪表盘及内外装照明的发光分布特性、分光光谱评价；

3. 照明领域：LED、OLED 照明的亮度 / 色度均匀性、分光光谱均匀性评价；

4. 材料与纺织领域：光学膜、涂层的不均匀与干涉条纹测量；纤维染织物的分光光谱评价；

5. 生物医疗与护肤领域：病理组织染色状态的细微差异解析与量化；肌肤斑、暗沉等护肤相关评价；

6. 其他领域：室内外景物分光光谱评价、物质质感分析等。