日本 ANDES 便携式空气离子计数器ANDES NT‑C101A 空气离子计数器，搭载同轴双筒式传感器，符合 JIS 标准，可检测空气正、负离子。测量范围 10~2999000 个 /cc，10 秒快速预热。支持 AC 电源与干电池双供电，机身小巧便携，兼顾实验室研究与户外现场检测，实现稳定可靠的离子浓度测定。

日本 RION 理音 手持式空气粒子计数器日本理音 RION KC-51/KC-52A 手持式粒子计数器，用于检测 0.3μm 以上空气悬浮微粒，判定洁净室洁净等级。KC-51 高性价比，按键黑白屏；KC-52A 升级彩色触摸屏，五通道粒径检测，支持日语 / 英语切换，配备 SD 卡存储，广泛用于半导体、制药、食品洁净车间巡检。

日本理音 RION 粗大粒子空气粒子计数器KC-20A 粗大粒子专用粒子计数器，为 10μm 以上悬浮粗颗粒检测设计。采用光散射检测原理，5 通道粒径同步测量，30L/min 大流量采样，适合现场快速监测不易沉降的空气中粗颗粒。内置打印功能，广泛用于涂装、精密装配车间洁净环境管控。

日本 CSC-BIZ RACCAR 洁净室粗大粒子计数器日本 CSC-BIZ RACCAR（CS-RA004）粗大粒子计数器，专为洁净环境落尘异物检测设计，可测 30μm 颗粒，5 档粒径分级识别，单次测量约 7 秒。可采集晶圆表面落尘图像与计数数据，解决传统粒子计数器无法关联产品不良痛点，广泛用于半导体洁净车间落尘调查、洁净用品除尘效果验证。

日本NCC半导体无尘室落尘监测仪自动计数 以非常缓慢的速度下落并堆积起来。落尘计数器是使用样品收集板（4英寸晶片），将落下附着于收集板上的粉尘进行进行分级计数的装置。测定结果可显示并保存在电脑上。使用晶片收集灰尘，所以只要是能放下晶片的地方就都可以进行测量。

日本NCC晶圆晶片附着粉尘分级计量设备 10μm～100μm粗大粒子（分级计量），收集落下并附着于晶片上的粉尘，进行分级计数

日本NCC硅晶片采样无尘室监测落下尘计数器 落尘计数器不是测量浮游尘而是测量附着粉尘的特殊测量仪器。可对10μm以上的粗大粒子进行分级计量。无尘室中的产品上附着的灰尘，异物，造成不良的原因多为落下尘埃。其特征是以非常缓慢的速度下落并堆积起来。落尘计数器是使用样品收集板（4英寸晶片），将落下附着于收集板上的粉尘进行进行分级计数的装置

日本NCC落尘计数器10μm粗大粒子检测仪 落尘计数器不是测量浮游尘而是测量附着粉尘的特殊测量仪器。 可对10μm以上的粗大粒子进行分级计量!