日本 Takano 微小载荷位移测量仪器

Name: 日本 Takano 微小载荷位移测量仪器TST 系列
Brand: 其他品牌
Price: 1555 CNY
Availability: InStock

日本 Takano 微小载荷位移测量仪器日本 Takano TST 系列微小载荷位移测量仪，专为高精度微小位移与载荷测试设计，可同步测量位移、应力、电阻值，精度达 0.1μm 与 0.0001N，支持实时图表与视频保存，广泛用于探针、微弹簧、压电执行器等精密器件的研发与耐久试验。

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详细介绍

日本 Takano 微小载荷位移测量仪器日本 Takano 微小载荷位移测量仪器

Takano TST 系列是日本タカノ株式会社专为微小载荷、微小位移测量开发的高精度测试设备。它突破了传统单一参数测量的局限，可在加载过程中同步采集位移、载荷、电阻值三大核心物理量，为材料研发、器件可靠性评估提供完整的数据支撑。

三参数同步测量
可一次性完成位移、应力（荷重）、电阻值的同步采集，无需多台设备分别测试，大幅缩短测试周期，确保数据的一致性与可比性。
微米级精密控制
设备具备0.1 μm的位移分解能，可精准捕捉极其细微的位移变化；同时应力分解能低至0.0001 N，对微小载荷的变化响应灵敏，适合探针、微弹簧、薄膜等软质 / 微纳结构的检测。
高精度与稳定性
每 100 微米的测量误差约为 0.5 微米，系统稳定性高，数据重复性好，可满足研发阶段对高精度测量的严苛要求，也能胜任产线批量样品的连续检测。
智能数据可视化
测量过程中，系统会以图表形式实时显示位移 - 荷重、位移 - 电阻等曲线，并可同步记录测量过程的视频，便于后续复盘与分析，清晰呈现材料的动态变化过程。
灵活操作与观测
配备 ZOOM 镜筒，可灵活调整观测视角，详细观察样品在加载过程中的状态变化；同时支持自定义测量程序，可根据客户特定的研发课题与测量需求进行灵活定制。

设备广泛应用于半导体、精密制造、电子元器件等领域，主要测量对象包括：

同时，也适用于材料研发阶段的耐久试验和连续测量评估，是评估设备或部件物理特性的理想选择。

我们提供完整的系统集成与专业的技术支持，包括设备的现场安装调试、操作培训、测量方案制定等服务。同时，支持根据客户的特定需求进行系统定制，助力客户高效解决研发与生产中的测量难题。

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