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日本ベテル ハドソン 热扩散成像检查设备日本ベテル ハドソン TSI-2 热成像仪,采用激光加热与红外成像技术,可通过热可视化评估样品内部空隙、裂纹与界面密合性,支持热特性与缺陷分析,是材料热性能与无损检测的高效工具。
产品型号:TSI-2
厂商性质:经销商
更新时间:2026-04-29
访 问 量:11
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日本ベテル ハドソン 热扩散成像检查设备 日本ベテル ハドソン 热扩散成像检查设备
热可视化缺陷检测技术
可通过热成像技术可视化样品内部的空隙、裂纹与不均匀性,评估界面密合性与热扩散性,适用于金刚石、DLC 涂层等高导热材料的界面性能检测,为电子设备功耗优化与节能设计提供数据支撑。
激光加热与高性能红外成像
配备激光加热功能,搭配宏观拍摄光学系统(分辨率约 20μm)与高性能红外相机(7.5μm~13.5μm 波段),结合降噪技术,可清晰捕捉样品表面的热信号变化,实现高精度成像分析。
灵活的解析与控制功能
支持点 / 领域解析、位相解析模式,可输出频率、距离、振幅、相位、亮度及图像数据;配备温度调制加热器、控制与分析软件,可实现样品热特性的全面评估。
宽范围样品与环境适配
可测量树脂、玻璃、陶瓷、金属等多种材料,支持室温~250℃的测试环境,测定周波数范围 0.1~10Hz,适配不同工艺条件下的样品检测需求。
| 项目 | 参数说明 |
|---|---|
| 型号 | TSI-2 |
| 测量对象 | 样品缺陷、不均匀性、红外辐射亮度、简易温度、热特性 |
| 解析模式 | 点 / 领域解析、位相解析 |
| 输出数据 | 频率、距离、振幅、相位、亮度、图像数据 |
| 光学系统 | 宏观拍摄光学系统(分辨率约 20μm) |
| 红外相机 | 高性能红外相机(7.5μm~13.5μm) |
| 测量环境 | 室温~250℃ |
| 测定周波数 | 0.1~10Hz |
| 附件配置 | 温度调制加热器、控制与分析软件、PC |
电子设备研发与质量管控:评估设备内部界面热扩散性,优化功耗设计,检测焊点、涂层的密合性缺陷。
高导热材料检测:金刚石、DLC 涂层等材料的界面热性能与缺陷分析,防止热量流失。
材料无损检测:陶瓷、金属、树脂等样品的内部空隙、裂纹与不均匀性评估。
工艺优化验证:不同工艺条件下材料界面密合性与热性能变化的对比测试,为工艺改进提供支撑。
热可视化缺陷检测:通过红外成像实现缺陷与界面密合性的直观评估,适配高导热材料检测需求。
高精度成像分析:搭配高分辨率光学系统与红外相机,结合降噪技术,确保成像与数据的准确性。
灵活的解析与控制:支持多种解析模式与数据输出,适配自动化测试与多场景分析需求。
宽范围样品适配:覆盖多种材料类型与测试环境,满足研发与质量管控的多样化需求。