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日本 KITANO 超高真空半导体探针设备

日本 KITANO 超高真空半导体探针设备日本北野精机超高真空半导体探针单元,专为半导体器件 I-V、PL、EL 等测试设计,支持 4 探针配置,移动分辨率 0.01mm,适配超高真空环境,可扩展冷热台与气体引入功能,满足多种测试场景需求。

  • 产品型号:4 探针
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-05-13
  • 访  问  量:22
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详细介绍

日本 KITANO 超高真空半导体探针设备 日本 KITANO 超高真空半导体探针设备

产品概述
该超高真空半导体探针单元是日本北野精机推出的真空环境下半导体器件测试装置,支持 I-V、PL、EL 及半导体特性测量,采用紧凑结构设计,可集成于超高真空腔体中,为半导体材料与器件研究提供精准的电信号与光学测试解决方案。
核心特点
  • 多探针配置与高精度驱动:最多支持 4 根探针同时工作,前后移动量 ±6.5mm,倾斜角度 6 度,移动分辨率达 0.01mm,确保探针定位精准。

  • 超高真空环境适配:采用标准 ICF-152 顶法兰,可在超高真空环境下稳定运行,满足真空工艺与器件测试的洁净环境要求。

  • 多功能测试扩展:支持 TRIAX、BNC、SMA 等多种馈通接口,可测量微小电流;配备观察窗,可通过 CCD 相机观测器件,或引入激光 / 光信号进行光学测试。

  • 灵活的环境控制:可扩展冷却台、加热台及气体 / 湿度引入功能,实现不同温度与环境条件下的器件特性测试。

  • 便捷的操作与集成:空气侧配备 XYZ 移动机构,便于探针操作;标准法兰设计支持设备的轻松扩充、改造与形状变更。

核心技术参数
表格
项目参数 / 说明
探针数量4 根
安装法兰标准 ICF 法兰,可选配 ISO/JIS 法兰
样品台尺寸Φ60mm
探针移动量前后 ±6.5mm,倾斜角度 6°
移动分辨率0.01mm
馈通接口TRIAX、BNC、SMA
探针材质
视窗标准科瓦尔材质,可选蓝宝石 / 石英材质
重量12kg
适配环境超高真空环境
适用场景与行业
  • 半导体器件特性测试:真空环境下的 I-V、PL、EL 等电信号与光学特性测量,如二极管、晶体管、光电器件等。

  • 材料科学研究:半导体材料、薄膜器件的表面与界面特性分析,适配超高真空制备与表征系统。

  • 器件可靠性与环境测试:引入气体、湿度或温度控制,模拟不同工作条件下的器件性能变化。

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