日本富士工 Fujikura 便携式薄膜厚度测试仪

日本富士工 Fujikura 便携式薄膜厚度测试仪 日本富士工 Fujikura 便携式薄膜厚度测试仪

1. 产品概述

HKT-Lite 0.1 是富士工推出的无线电池驱动轻便型台式精密测厚仪，无需外接交流电源，采用 CR2032 纽扣电池供电，可在无供电的车间、现场、户外完成 0.1μm 高精度厚度检测；设备恒定控制测头下降速度，消除人为操作力度差异带来的测量偏差，搭配陶瓷测量台面与 R30 超硬球面测头，适配薄膜、薄片、涂层等各类软性 / 硬质试样，支持 RS232、USB 双数据输出，可搭配 PC 软件记录厚度数据，同时提供替换测头、数据传输线、手动泵等选配配件。

2. 五大核心产品优势

无线无外接电源设计，现场便携检测

整机依靠 CR2032 纽扣电池供电，机身轻量化，无需市电插座，仓库、产线巡检、户外试样抽检均可灵活使用。

恒定测头下落速度，测量数据重复性高

机械结构稳定控制测头下降速率，杜绝人工手动下压力度不均造成的数值波动，重复精度可达 0.4μm，数据一致性优异。

0.1μm 高分辨率，宽 8mm 测量行程

最小读数 0.1μm，总测量行程 8mm，既能检测微米级超薄薄膜，也可测量厚片、多层复合卷材，覆盖多规格试样。

耐磨陶瓷工作台 + 超硬球面测头，使用寿命长

φ50 陶瓷测量底座耐腐蚀、不易刮花；R30 超硬球面测头不易磨损，长期测量薄膜无压痕、不损伤试样表面。

双通讯输出，完整数据采集拓展

标配 RS232、USB 双数字接口，可直连电脑导出测量数据；可选配替换测头、PC 数据传输线缆、手动泵，适配实验室批量检测场景。

3. 完整规格参数

表格

项目参数值说明

测量分辨率0.1μm最小读数 0.1 微米

重复精度0.4μm多次测量数值波动≤0.4μm

整机测量精度≤1.8μm全量程系统误差控制

测试压力≤0.8N（1mm 试样时）低压测试，避免薄膜形变

测头规格R30 超硬球面耐磨不划伤试样

测量行程8mm最大可测厚度 8 毫米

测量工作台φ50mm 陶瓷台面耐磨损、耐腐蚀

数据输出RS232C、USB双接口对接电脑采集数据

供电方式CR2032 纽扣电池无线免外接电源

可选配件替换测头、PC 数据传输线、手动泵按需拓展检测功能

4. 典型应用场景

锂电行业：隔膜、铝塑膜、极片薄片现场快速抽检，车间无电源工位巡检

光学薄膜：PET 基膜、偏光片、ITO 导电膜实验室精密厚度筛查

塑胶包装：PE/PP 薄膜、食品卷材仓库来料厚度检测

新材料研发：高分子薄片、涂层膜、柔性基材小样离线测厚

品质巡检：产线移动质检工位，无需固定供电，随时抽样检测