日本富士工 Fujikura 实验室薄片厚度测试仪

日本富士工 Fujikura 实验室薄片厚度测试仪 日本富士工 Fujikura 实验室薄片厚度测试仪

1. 产品概述

HKT-Master0.01AA 是富士工旗舰级超高精度台式薄膜厚度测量仪，面向超薄光学膜、锂电隔膜、涂层薄膜研发质控；整机采用气动恒定速度下压机构，消除操作人员力度差异带来的数据偏差，0.01μm 顶级分辨率，0.14N 极低测试压力避免软薄膜形变，搭配三丰数显表头，支持 RS232 数据通讯，配套专用 PC 软件采集存储厚度曲线，标配 φ50 耐磨陶瓷工作台与 R30 超硬球面测头，适合对测量精度、重复性要求严苛的实验室研发与来料全检。

2. 六大核心产品优势

气动恒定下压结构，消除人为操作误差

机械气动控制测头下降速度全程一致，不同操作人员测量同一样品数值无波动，重复精度可达 0.1μm，数据一致性行业顶尖。

0.01μm 超高分辨率，适配纳米级超薄薄膜

最小读数 0.01 微米，指示精度 0.2μm，可精准分辨极薄涂层、光学基膜、微孔隔膜的微小厚度差异，满足新材料研发检测。

0.14N 超低压测试，软质薄膜无挤压形变

极低测试压力，测量软性薄膜、超薄基材不会压薄试样，还原真实原始厚度，杜绝因压力过大造成的测量失真。

耐磨陶瓷台面 + 超硬球面测头，长期使用稳定

φ50mm 陶瓷测量底座耐腐蚀、耐刮擦；R30 超硬球面测头不易磨损，长期高频测量无划痕，不损伤薄膜样品表面。

三丰专业数显表头 + RS232 数字输出

配套 Mitutoyo 高精度数显单元，读数直观稳定；RS232C 数据接口直连电脑，搭配专用软件自动记录、导出厚度数据。

AC 市电稳定供电，实验室长期连续检测

AC100V 标准供电，可长期不间断开机批量检测，无电池续航限制，适合实验室全天候试样测试。

3. 完整规格参数

表格

项目规格参数说明

测量分辨率0.01μm行业超高精密读数

重复精度0.1μm多次测量波动≤0.1μm

指示精度0.2μm整机系统误差控制

测试压力0.14N低压不挤压超薄软膜

测量范围0~500μm覆盖各类超薄至中厚薄膜

测头规格R30 超硬球面耐磨、不划伤试样

测量工作台φ50mm 陶瓷台面耐腐蚀、高平整度

数据输出RS232C 数字通讯对接电脑采集数据

供电电源AC100V支持长期连续开机

标配组件三丰 EH-10S 数显表头、主机、陶瓷工作台成套完整测量系统

可选配件专用 PC 数据软件、替换式测头拓展数据追溯、磨损更换

4. 典型应用场景

光学薄膜行业：偏光片、ITO 导电膜、光学 PET 基膜、防刮涂层超薄精密厚度检测

锂电池材料：超薄陶瓷隔膜、超薄铝塑复合膜、极片涂层实验室研发测试

柔性电子行业：柔性基材、超薄 PI 膜、导电涂层厚度质控

高分子新材料研发：超薄功能性涂层、微孔薄膜、超薄复合膜小样对比测试

包装膜质检：食品、电子包装超薄卷材来料高精度抽检