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日本富士工 FUJIWORK 全自动连续薄膜测厚仪日本富士工 FT-A200H/HR 连续薄膜测厚仪,0.01μm 超高分辨率,全自动走料实现连续厚度检测;0.3N 可调测试压力,RS232 + 模拟双路数据输出,分 10~200μm 与 3~100μm 两款量程,适配锂电隔膜、超薄光学膜实验室精密批量厚度检测。
产品型号:FT-A200HR
厂商性质:经销商
更新时间:2026-07-02
访 问 量:16
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日本富士工 FUJIWORK 全自动连续薄膜测厚仪 日本富士工 FUJIWORK 全自动连续薄膜测厚仪
FT-A200H/HR 是富士工 FilmTester 系列全自动连续薄膜测厚仪,搭载高精度测头与专用放大单元,整机一体化走料机构,放入薄膜即可自动连续扫描厚度;0.01μm 超高分辨率,重复精度 0.05μm,测试压力 0.3N 可按需调整,适配超薄易形变薄膜;配备 Mahr 高精度数显放大单元,支持模拟量 + RS232 双路数据输出,可连接电脑、记录仪、打印机,整机工业机身,适用于薄膜产线切片抽检、实验室批量厚度分布标定,是锂电、光学、涂布行业精密检测设备。
五、八大核心优势
全自动连续走料,批量厚度快速检测
内置电动送料机构,裁切薄膜试样放入即可自动匀速输送,连续多点采集厚度数据,无需手动逐点按压,大幅提升批量检测效率。
0.01μm 超高分辨率,0.05μm 稳定重复精度
精密测头模组,微米级细分读数,同位置多次测量波动仅 0.05μm,满足超薄涂层、光学膜严苛质检标准。
双量程机型,覆盖超薄至常规薄膜
FT-A200HR 适配 3~100μm 超薄基材;FT-A200H 覆盖 10~200μm 主流薄膜,一台品牌可满足不同厚度产品线检测需求。
0.3N 标准可调节测试压力,适配软膜
基准测试压力 0.3N,支持压力微调,平衡测量精度与薄膜防压损,超薄隔膜、离型膜不会受压变薄失真。
双信号输出,数据可对接各类设备
同时输出模拟信号与 RS232 数字通讯,可连接原厂数据软件、数据记录仪、外置打印机,完整留存厚度曲线与原始数据。
一体化工业机身,稳定耐用
整机尺寸 260×300×309mm,自重约 10kg,重型底座减震,车间、实验室长期连续运行无漂移。
宽电压适配全球供电
标准 AC100V,可定制变更为 AC100~240V 宽电压,国内、海外产线均可直接使用。
丰富选配拓展功能
可选专用分析软件、数据记录仪、替换测头、工控电脑、图表打印机,搭建完整厚度质检工作站。
六、完整规格参数
表格
项目FT-A200HFT-A200HR
测量分辨率0.01μm0.01μm
重复精度0.05μm0.05μm
线性度±0.2%(测头基准精度)±0.2%(测头基准精度)
测量量程10μm~200μm3μm~100μm
标准测试压力0.3N,支持压力变更0.3N,支持压力变更
数据输出模拟量 + RS232C模拟量 + RS232C
整机外形尺寸260(H)×300(W)×309(D)mm260(H)×300(W)×309(D)mm
整机重量约 10kg约 10kg
供电电源标准 AC100V,可改 AC100~240V标准 AC100V,可改 AC100~240V
设备构成主机 + 放大显示单元 + 高精度测头主机 + 放大显示单元 + 高精度测头
可选配件专用软件、数据记录仪、替换测头、电脑、图表打印机专用软件、数据记录仪、替换测头、电脑、图表打印机