日本富士工 FUJIWORK 气动薄膜测厚仪

日本富士工 FUJIWORK 气动薄膜测厚仪 日本富士工 FUJIWORK 气动薄膜测厚仪

HKT-Master0.1BD/BDL 为富士工新一代标准紧凑型薄膜测厚仪，采用气动匀速下压机构，消除人为操作手法带来的测量偏差；0.1μm 标准分辨率，0~500μm 通用宽量程，测试压力 0.14N，适配超薄易形变软膜；配备独立 M3 高清触控数显单元，数据通过 USB 接口直连电脑采集存储，标配 φ50 陶瓷测量台面、R30 超硬球面测头，BDL 型号加大工作台面，适合宽幅薄膜试样检测，广泛用于锂电隔膜、光学 PET、包装薄膜、柔性涂层实验室来料质检。

五、核心七大优势

气动恒速下压，测量无人工误差

气缸驱动测头匀速下落，不受操作人员按压力度、速度影响，重复精度稳定 0.2μm，同一样品复测数值波动极小。

0.1μm 精密分辨率，通用薄膜全覆盖

最小读数 0.1μm，兼顾超薄涂层与数百微米复合膜，满足锂电、光学、塑胶全行业常规厚度检测。

 0.14N 超低测试压力，不压薄软质薄膜

固定低压测试，柔性超薄隔膜、光学基膜不会受压形变，测量数值贴合薄膜真实原始厚度。

500μm 宽测量量程，厚薄试样通用

0~500μm 量程无需更换机型，单台设备可检测超薄涂层、包装膜、复合薄片多品类材料。

M3 独立触控显示单元，操作直观

分体式高清触控表头，放置灵活，实时显示厚度数值、公差区间，支持数据锁定、批量统计。

USB 数字数据输出，完整数据追溯

USB 通讯对接原厂分析软件，自动采集、导出厚度数据、生成厚度分布曲线，满足实验室质检数据存档要求。

陶瓷耐磨台面 + R30 超硬球面测头

φ50 陶瓷底座耐腐蚀、高平面度、耐长期摩擦；球面测头无尖锐棱角，不会划伤薄膜样品表面，耐磨使用寿命长。

六、完整规格参数

表格

项目参数备注

测量分辨率0.1μm标准通用精度档位

重复精度0.2μm多次测量波动≤0.2μm

线性度±0.2%全量程线性误差控制

测试压力0.14N固定低压，不可调节

测量范围0~500μm宽量程通用款

测头样式R30 超硬球面防划伤薄膜

测量工作台φ50mm 陶瓷台面（BDL 加大台面）耐腐蚀高平整度

数据输出USB直连电脑采集数据

供电电源AC100V仅市电供电，无电池模式

可选配件替换式测头、专用数据软件、薄膜送料工装按需选配

型号差异BD = 标准台面；BDL = 加宽大型台面内部精度、量程一致

七、适用行业场景

锂电池行业：陶瓷隔膜、铝塑膜、极片涂层常规厚度检测

光学薄膜行业：PET 光学基膜、偏光片、纳米防护涂层质检

包装塑胶行业：PE/PP 薄膜、食品 / 电子卷材来料厚度抽检

新材料实验室：中等厚度复合薄膜、功能性涂层对比测试

精密涂布行业：各类超薄涂布膜、离型膜厚度标定