日本 YAMABUN 非接触电容粘性保护膜测厚仪

日本 YAMABUN 非接触电容粘性保护膜测厚仪 日本 YAMABUN 非接触电容粘性保护膜测厚仪

1. 产品概述

TOF-C2 是 YAMABUN（山文电气）非接触电容式离线厚度检测仪，为 TOF-C 升级后继机型，区别于 TOF 系列接触式测厚产品。

依靠静电容量原理实现无探头触碰测量，解决粘性保护膜、超薄软膜被测头挤压变形、表面被刮伤的痛点；支持长样品连续多点扫描，即使薄膜表面粗糙、轻微凹凸依旧稳定读数，广泛应用光学保护膜、自粘膜、各类极易受损高分子薄膜研发与质检。

2. 详细规格参数

表格

参数项目技术指标

测量厚度范围≤500 μm

单次测量长度10～10000 mm

测量间距≥1 mm

最小显示分辨率0.01 μm

供电电源AC100V 50/60Hz

使用环境温度5～40℃（单次测量内温度波动≤1℃）

环境湿度35～80% RH（无凝露）

测量原理静电容量式、非接触测量

3. 产品核心亮点

✅ 真正非接触测量，杜绝样品损伤

无探头压覆、无表面摩擦，适合柔软薄膜、带胶粘性保护膜，不会造成压痕、划痕。

✅ 粗糙表面同样稳定测量

不受薄膜轻微凹凸、微观纹理干扰，相比光学测厚对试样平整度宽容度更高。

✅ 0.01μm 高显示分辨率，兼顾精度与通用性

最高量程 500μm，覆盖多种中薄规格高分子薄膜。

✅ 内置克重换算功能

可直接由厚度数值换算面密度，减少二次计算，提升实验室检测效率。

✅ 自动介电常数设定功能

更换不同材质薄膜无需繁琐手动参数录入，操作门槛低，快速切换试样检测。

✅ 自动移送采样机构

长尺寸样品连续自动扫描，厚度波动数据完整采集，用于评估薄膜纵向均匀性。

4. 典型适用样品

各类自粘性保护膜、PET 离型膜、软性功能薄膜；

极易刮伤、受压易形变超薄高分子基材；

表面存在细微纹理、粗糙表层塑料薄膜；

薄膜研发实验室新品试样、挤出工艺离线抽检。