日本 YAMABUN 高精度 PI 光学薄膜测厚仪

日本 YAMABUN 高精度 PI 光学薄膜测厚仪 日本 YAMABUN 高精度 PI 光学薄膜测厚仪

1. 产品概述

TOF-6R001 是 YAMABUN（山文电气）TOF 系列最高精度型号，专为聚酰亚胺（PI）、光学薄膜、超薄功能性薄膜开发。

搭载高性能线性千分尺测头，实现接触式 0.01μm 超高显示精度；配备自动送料机构，可沿样品纵向密集采样，规避人工操作力度、定位偏差；广泛应用膜材实验室新品开发、成型工艺优化、出厂精密抽检，支持生成厚度分布雷达图直观评估厚薄波动。

2. 详细规格参数

表格

参数项目技术指标

测量厚度范围5～100 μm

单次测量长度10～10000 mm

测量间距≥0.1 mm

最小显示分辨率0.01 μm

标准测量压力0.19 N（可切换 0.12N）

供电电源AC100V 50/60Hz

使用环境温度10～40℃

环境湿度35～80% RH（无凝露）

整机功耗50VA（不含外接电脑）

测量原理线性千分尺、单点垂直接触式

3. 可选功能配件清单

✅ 卷纸打印输出功能

✅ 连续自动测量功能

✅ 各类专用特殊测量探头

✅ 图像数据传输机能

4. 产品核心亮点

✅ 0.01μm 超高分辨率，薄膜精密检测

同系列精度最高机型，满足 PI 膜、光学膜等材料微米级厚度管控需求。

✅ 双档位轻载荷测量压力可选（0.12N / 0.19N）

针对极软超薄薄膜，选用更低压力避免样品受压形变，保障测量真实性。

✅ 最小 0.1mm 超密集采样间距

实现高密度连续扫描，精准捕捉薄膜局部微小厚度起伏。

✅ 全自动移送测量，检测重复性优异

自动化行进采样，消除人工操作个体差异，试验数据可稳定复现。

✅ 完整数据采集与工艺分析功能

测量数值实时屏幕展示，数据自动保存至 PC；支持厚度分布雷达图表，用于双向拉伸薄膜工艺参数调试。

✅ 单点垂直接触结构，维护简单稳定可靠

上下平面标准测头，适合平整薄膜试样，长期连续运行故障率低。

5. 典型应用领域

聚酰亚胺 PI 薄膜、光学聚酯薄膜、离型膜、超薄功能性基材；

微电子、柔性线路配套超薄高分子薄膜；

薄膜生产企业研发实验室配方、拉伸工艺调试；

来料精密检验、成品出厂厚度均匀性抽检；

材料研究院、高校薄膜材料特性科研实验。