日本 興栄 便携式半球发射率测量仪

日本 興栄 便携式半球发射率测量仪 日本 興栄 便携式半球发射率测量仪

1. 产品核心开发背景

PM-E2 由日本株式会社興栄将 JAXA 宇宙科学研究所航天热辐射检测设备民用化改造而来。航天器热平衡设计必须获取材料全半球发射率（非单向垂直发射率），本设备解决传统大型积分球设备笨重、无法现场取样测试的痛点，实现小型便携化、低成本高精度检测。

2. 硬件结构组成

整机分为两大独立分体单元：

操作控制部：液晶显示屏、操作按键（MODE/ENT/MEAS/SAVE），内置数据存储、PC 通讯导出功能；

测量探头部：内置 60℃恒温黑体辐射源、内镀金积分球、热电堆红外检测器，前端检测窗口直接贴合样品完成采集。

3. 三大核心产品优势

（1）高精度半球法测量，贴合航天行业标准

采用积分球半球入射 - 半球反射检测方案，覆盖 0.6~42μm 全红外波段，测量不确定度低至 0.03；区别普通单角度发射率仪，数值匹配航天器、热工仿真软件所需全半球辐射参数。

（2）分体超轻便携，支持现场原位检测

整机拆分设计，探头仅 0.7kg，可手持贴合工件、小型试样直接测量；支持电池供电，实验室、产线、户外现场均可使用，无需将样品裁切送检。

（3）适配微小样品，操作门槛低

可快速测量小尺寸试样、大型设备表面局部区域反射 / 发射性能；配套高低发射率标准膜片一键校准，1~3 分钟出完整数据，支持电脑批量存档溯源。

（4）常温无损检测，适配多类薄膜涂层

无需高温预处理，常温下无损检测薄膜、涂层、金属基材、复合材料，不会破坏样品表面镀层与隔热层。

4. 标准化校准流程

出厂配套双标准校准片：

低发射率基准：镀金反射镜 ε=0.05；

高发射率基准：黑色 Kapton 薄膜 ε=0.85；

设备自动两点校准，锁定 0.03 恒定测量精度，长期使用漂移小。

5. 主流应用行业场景

航空航天领域：卫星、飞行器热控涂层、隔热薄膜、散热基底半球发射率检测；

光伏新能源：太阳能电池基板、吸热涂层、光伏背板辐射吸收性能测试；

涂料隔热行业：耐高温隔热漆、建筑节能保温涂层、红外隐身材料研发质控；

工业热能节能：锅炉、管道保温材料、高温设备散热部件热辐射性能评估；

高校科研实验室：热物理、红外材料、辐射传热课题基础表征设备。

6. 与传统大型积分球设备对比

表格

对比项传统落地式积分球发射率仪興栄 PM-E2 便携式检测仪

设备体积大型柜体，固定实验室摆放分体手持，总重不足 1kg，可外勤携带

测试场景仅裁切样品进实验室检测可直接贴合大型工件原位测量

检测耗时5~10 分钟1~3 分钟快速出数

采购与运维成本造价高、配套恒温系统轻量化低成本，无需配套辅机

供电限制仅市电固定工位使用适配器 / 电池双模式，户外可用

表格

参数项目详细技术指标

测量原理半球入射 - 半球反射积分球法，内置 60℃黑体炉、镀金积分球、热电堆检测器

测量物理量半球反射率、全半球发射率 εH

发射率量程0.05～0.95

检测波长0.6～42μm，覆盖 300K 黑体 95% 辐射能量

测量不确定度0.03（行业高精度水准）

单次测量时长1～3 分钟

标准校准样品低发射率：镀金 / 镀铝镜 ε=0.05@293K；高发射率：黑色 Kapton 膜 ε=0.85@293K

供电方式DC12V 1A 适配器，支持电池户外便携使用

分体结构尺寸操作部：145×82×32mm；测定探头：125×60×74mm

整机重量操作单元 0.2kg，测量探头 0.7kg，总重不足 1kg

配套功能基准校准、数值直显、PC 数据存储导出

存储使用环境温度 10～45℃，湿度≤50% RH