





日本 SoftWorks 便携式原子力显微镜SoftWorks 便携式原子力显微镜(Handy AFM)为超小型纳米检测设备,具备超高分辨率,提供高分解能、广域两种扫描头可选,探头更换便捷无需调试。可替代 SEM 与三维光学显微镜,用于薄膜、半导体、光学元件表面观测,适配实验室与产线在线检测。
产品型号:Handy AFM
厂商性质:经销商
更新时间:2026-08-04
访 问 量:16
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日本 SoftWorks 便携式原子力显微镜 日本 SoftWorks 便携式原子力显微镜
1、产品概述
SoftWorks ハンディ AFM 便携式原子力显微镜,由日本 SoftWorks(ソフトワークス株式会社)研发。整机尺寸小巧,长宽进深仅 15cm,运输便捷。搭载电磁扫描器,规避传统压电陶瓷非线性、老化漂移缺陷,操作简易,支持自动测量,可实现样品三维纳米表面形貌观测。
2、产品性能
双扫描头可快速切换,高分辨率型适合精细纳米观测,广域型适配大范围样品扫描;
探针数秒完成更换,更换后无需校准调试,兼容碳纳米管探针;
采用电磁扫描方案,扫描过程无需移动样品,无压电漂移、迟滞问题;
超高纵向、横向分辨率,低噪声水平,稳定获取纳米级表面数据;
可选配自动位移平台,支持产线在线全自动检测。
3、技术参数表
表格
项目高分解能型广域走查型
最大扫描范围10 μm110 μm
最大 Z 轴量程2.0 μm22 μm
Z 方向分辨率0.000107 nm0.0013 nm
XY 方向分辨率0.00059 nm0.0065 nm
非线性<0.6%<0.6%
Z 噪声水平 (RMS)40 pm90 pm
备注:分辨率数值基于 24bit 运算输出
4、型号说明
产品全称:ハンディ AFM(Handy AFM)便携式原子力显微镜,配置区分依靠两种扫描头:
①高分解能扫描头:微小区域超高精度测量;
②广域走查扫描头:大范围表面形貌检测,两种扫描头可瞬时互换。
5、主要用途
微细线幅测量、掩膜图案检测、研磨抛光效果评价、薄膜台阶高度测定、成膜连续性判定;
高精度模具表面解析、光学元件评估、硬盘磁场观测、DVD 凹凸压模检查、量子点观测、薄膜表面缺陷检查。
6、适用行业
半导体行业、光学零部件制造、新能源光伏(太阳能电池)、新材料研发、精密模具加工、硬盘存储、显示行业、高校科研实验室、薄膜涂层行业、量子材料研究。