日本 DIA 便携式双通道超声波探伤仪

日本 DIA 便携式双通道超声波探伤仪 日本 DIA 便携式双通道超声波探伤仪

产品概述

UI‑29 是日本ダイヤ電子応用 (DIA 钻石电子) 推出便携式超声波探伤仪，面向探伤作业人员开发，支持双通道同步探伤，具备丰富扩展能力，支持远程操作，可搭配 PC 软件完成数据回看分析，还可根据客户探伤需求做软硬件定制化开发。

产品性能特点

1. 双通道同步探伤：实现 2CH 同时探伤，提升检测效率；

2. 扩展功能：可外接外部设备、机构联动、报警可视化、全波形数据记录；

3.LAN 远程功能：通过网络通信实现仪器远程操作；

4. 配套 PC 分析软件：电脑端读取、显示、分析 UI‑29 采集的探伤数据；

5. 可定制化：针对特殊探伤工况，硬件、软件均可做专用化定制；

6. 便携机身，操作界面贴合探伤人员使用习惯，A‑scan 波形直观显示。

型号

型号：UI‑29，便携式双通道超声波探伤仪。

用途

1. 各类金属工件裂纹、气孔、夹杂物超声波探伤检测；

2. 焊缝焊接质量无损检测评估；

3. 半导体、陶瓷复合材料内部缺陷探伤；

4. 实验室试样检测、现场现场巡检探伤；

5. 可对接自动化机构，实现自动化探伤作业。

使用行业

装备制造、压力容器、轨道交通、半导体、新材料实验室、焊接检测、电力设备等行业。

主要功能概要

2 通道同步探伤

全波形记录存储

外部设备联动、报警可视化

LAN 网络远程操控

PC 端数据分析软件

支持软硬件定制开发