日本 DIA 手持式阵列涡流探伤检测仪

 日本 DIA 手持式阵列涡流探伤检测仪  日本 DIA 手持式阵列涡流探伤检测仪

产品概述

MIZ‑21C 是 ZETEC 高性能阵列探头手持式涡流检测系统，整机便携密封抗冲击，可在严苛工况开展无损检测。支持多种探头、扫描配件，提供 3 个硬件版本，同时支持电导率、非导电涂层厚度测量，兼顾缺陷探伤与材料性能检测。

产品性能特点

1. 人体工学便携设计，整机仅 1.2kg，狭小空间也可操作；5.7 英寸多点触控显示屏，操作直观。

2. 丰富外接接口，USB2.0、Wi‑Fi、蓝牙，方便数据传输。

3. 全密封机身，经过跌落、振动测试，适应恶劣现场工况；电池最长续航 10 小时。

4. 硬件信号性能优异，频率 5Hz‑10MHz，增益 10‑132dB，16 位数据分辨率，内置 128GB 存储。

5. 多型号可选，支持单探头、双探头、阵列探头，适配不同检测通道需求。

型号说明

核心规格参数

电气参数

频率范围：5Hz ~10MHz

信号发生器输出：最大 12Vpp，0.1V 步进可调

接收增益：10‑132dB

数据分辨率：16bit

电导率测量：0.9‑110% IACS；涂层厚度 0‑1.000mm

内置存储：128GB

物理整机参数

外形：267×122×38mm

重量：1.2kg（含电池外壳）

屏幕：5.7 英寸 480×640

续航：最长 10 小时

接口：USB2.0、Wi‑Fi、蓝牙

用途

1. 层间腐蚀缺陷检测；

2. 材料电导率、非导电涂层厚度测量；

3. 管道、压力容器、储罐腐蚀与裂纹检测；

4. 高焊道、FSW 搅拌摩擦焊焊缝裂纹评估、尺寸测量。

使用行业

航空航天、石油天然气、电力设备、装备制造业、压力容器、轨道交通等领域现场无损检测。