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大冢电子 Zeta 电位粒径分子量测量系统

大冢电子 Zeta 电位粒径分子量测量系统ELSZneo 是大冢电子多功能测量系统,可完成 Zeta 电位、粒径、分子量多维度检测。采用动态、电泳、静态光散射原理,粒径测量 0.6nm‑10μm,分子量 340‑2×10⁷。支持粒子、平板、薄膜样品,适配高低浓度试样,温度可控,广泛用于材料、医药、化工等科研领域。

  • 产品型号:ELSZneo
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-08-21
  • 访  问  量:19
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详细介绍

大冢电子 Zeta 电位粒径分子量测量系统 大冢电子 Zeta 电位粒径分子量测量系统

1、产品性能

本设备集成动态光散射、电泳光散射、静态光散射三种检测原理。
  1. 粒径检测:可测量稀薄至高浓度悬浮样品,浓度区间 0.00001~40%,残差功能校验数据可靠性;

  2. Zeta 电位:支持粒子、平板、薄膜样品,多点测量确定静止面,消除样品沉降干扰,可评估 pH 依赖性;

  3. 分子量:无需标准样品即可测试绝对分子量,同时获取第二维里系数;

  4. 整机温控 0‑90℃,支持多语言软件,满足 FDA 21CFR Part11 规范,可拓展微流变、凝胶网络分析功能。

2、型号说明

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型号Zeta 电位粒径分子量拓展功能
ELSZneo粒子浓度、微流变学、凝胶网络、多角度粒径
ELSZneoSE仅 Zeta 电位、粒径基础测量

3、参数表

表格
项目规格
光源窄带半导体激光器
检出器高感度 APD
温度范围0~90℃(支持温度梯度)
外形尺寸330(W)×565(D)×245(H)mm
重量22kg
功耗250VA
粒径测量范围0.6nm~10μm(显示 0.1nm‑1mm)
粒径浓度0.00001~40%
分子量测量范围340~2×10⁷
Zeta 电位样品粒子、平板状样品、薄膜
软件语言简中、繁中、英文、日文、韩文

4、用途

  1. 纳米颗粒粒径分布测试;

  2. 悬浮液、乳液 Zeta 电位测试,评估分散稳定性;

  3. 高分子、蛋白类物质绝对分子量测定;

  4. 平板、薄膜材料表面 Zeta 电位表征;

  5. 微流变、凝胶网络结构分析,研究胶体相互作用。

5、使用行业

锂电材料、生物医药、高分子化工、涂料油墨、纳米新材料、食品、环境科研、高校实验室、检测机构。


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