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Devices and Services台式半球发射率测量仪

Devices and Services台式半球发射率测量仪D&S AE1 发射率测量仪配套 RD1 数字电压表，符合 ASTM C1371 标准，用于测试材料半球发射率。仪器无需加热待测样品，预热 30 分钟后可快速检测，测量重复性可达 ±0.01 发射率单位，支持小尺寸、非平面样品检测，选配定制适配器，广泛用于涂层、保温材料、航天材料热物性实验室检测。

产品型号：AE1
厂商性质：经销商
更新时间：2026-09-14
访问量：12

联系电话：13823182047

Devices and Services台式半球发射率测量仪 Devices and Services台式半球发射率测量仪

1、型号

整套配置：AE1 发射率检测仪主机 + RD1 数字电压表

2、产品性能

仪器检测器采用电加热设计，无需对样品加热，省去样品温控环节；输出电压与发射率接近线性关系；测量重复性 ±0.01 发射率单位；整机符合 ASTM C1371 国际测试标准；预热约 30 分钟即可开展测试，单次读数约 1.5 分钟；支持小样品，可选购非标适配器，适配非平面试样。

3、参数表

表格

项目	参数
执行标准	ASTM C1371
测量对象	半球总发射率
测量重复性	±0.01 发射率单位
等效测试温度	65℃(150℉)
预热时间	约 30min
单次测量周期	90 秒
配套仪表	RD1 数字毫伏电压表
样品适配	标准样品，支持选配小样品、异形样品适配器

4、用途

用于各类固体材料半球热发射率测定；适用于隔热涂层、保温材料、航天航空材料、建筑隔热膜、金属镀层、高分子复合材料；高校实验室、第三方检测机构、新材料企业做热辐射物性评价，验证材料红外辐射散热、隔热性能。

5、使用说明

将 AE1 主机与 RD1 电压表接线完成，接通电源整机预热 30 分钟；
根据试样尺寸选用标准或定制适配器，将待测样品放置测试工位；
仪器检测器自动完成热平衡，RD1 读取电压数值，换算得到发射率；
完成一次测量后，间隔约 90 秒，再进行下一样品测试；
保持测试环境温度稳定，避开强气流、强光直射，保证测试精度；
定期清洁检测器表面，防止粉尘污染影响测量结果。

6、适用行业

航空航天、新材料研发、建筑节能、涂料涂层、高校科研院所、第三方材料检测。

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