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日本 NPS 高精度四探针电阻率测定仪日本 NPS Model I-α 电阻率测定仪，采用直流四探针法，测量精度 ±0.2%。可测试硅片、导电薄膜的体电阻率与方块电阻，支持厚度补偿。设备稳定性强，可直接兼容现有治具与程序，适配半导体材料研发与产线检测，满足高精度材料电学评估需求。
产品型号：sigma-5+厂商性质：经销商更新时间：2026-10-20访 问 量：12
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日本 NPS 高精度四探针电阻率测定仪 日本 NPS 高精度四探针电阻率测定仪
本款 NPS Model I-α 电阻率处理器，基于三十余年电阻率测量技术开发，采用直流四探针法。测量精度可达 ±0.2%，单次测量约 1.5 秒；可有效抑制热漂移与接触不良，测量重复性高。设备具备上位互换性，无需大幅修改现有探针治具与测量程序，可直接接入现有测试环境；同时符合全球环境法规，长期运行稳定可靠。
型号：Model I-α品牌：NPS（日本）配套可选：RG-5 样品台、四探针探头、打印机
表格
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 测定方式 | 直流 4 探针法 |
| 测定时间 | 约 1.5 秒 / 次 |
| 显示 | LED 5 桁 |
| 厚度补偿范围 | 0.1～9999.9μm |
| 温度补偿 | 手动设定 |
| 合规电压 | 最大 50V 以上 |
| 测定精度 | ±0.2% |
| 功耗 | 70W（AC100V 50/60Hz） |
| 外形尺寸 | W260×D300×H140(mm) |
| 重量 | 约 5kg |
| 施加电流 | LOW：1000mA～1μA；HIGH：1mA～1μA |
| 偏置电流 | Low=3nA High=30pA 以下 |
| 电阻率测量范围 | 1.0000mΩ-cm～500.00kΩ-cm |
| 电阻测量范围 | 1.0000mΩ～500.00kΩ |
| 方块电阻测量范围 | 1.000mΩ/□~5000.0kΩ/□ |
| 标配配件 | 电源线、说明书 |
| 选购件 | 手动样品台、四探针探头、打印机 |
用于半导体硅片、导电薄膜基板等材料的研发、来料检测、产线质检。可精准测量材料体电阻率、方块电阻，评估导电材料电学性能，广泛应用于半导体、光电材料、薄膜材料行业。
将主机接 AC100V 电源，连接四探针探头与样品台；
在设备界面设置样品厚度、温度补偿参数；
将待测样品放置样品台，降下探针接触样品；
启动测试，设备自动输出电阻率、方块电阻数据；
测试完成抬起探针，更换样品；可外接打印机导出测量记录。
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