日本 Takano 高野 半导体基板缺陷检测机日本 Takano 高野 ALTAX 系列半导体三维检测机，采用光切断法实现 2D 平面与 3D 高度同步测量，分 300EX 硅片机型、FS3/FS6 封装基板机型；微米级高精度测量凸点高度、直径、通孔凹陷，适配晶圆、BGA 封装基板全流程质检，高速在线量产检测，一站式解决半导体凸点立体缺陷检测需求。

日本 Takano 高野 数字全息视觉检测机日本 Takano 高野 DHI-2000 数字全息透明件检测机，无需光学镜头，单次成像同步检测透明工件内部、正反面缺陷；5μm 高精度分辨，线阵机型支持 5m/min 高速卷材在线检测，适配光学镜片、滤光片、透明薄膜，稳定检出气泡、裂纹、划痕、涂层不良，自动对焦适配多厚度工件，是光学透明件量产质检专用设备。

日本 UNIOPT 半导体晶圆晶体缺陷检测仪日本 UNIOPT UMY-10 纹影式脉理观察器，基于 Schlieren 施利伦光学原理，搭载 10 倍变焦镜头与高灵敏相机，Φ75mm 大视野，可直观检出光学玻璃脉理、半导体晶圆晶体缺陷，同时实现气流流体可视化，操作简单无需专业培训，广泛用于光学加工、半导体、流体实验室质检与实验观测。

日本 KATO KOKEN 半导体无尘车间尘源检测仪日本 KATO KOKEN Apex AP-GR 绿色激光微粒可视化成套系统，搭载 500 万像素 75 帧高速相机，可观测 0.3μm 级洁净室悬浮粒子；配套专业软件实现粒子轨迹追踪、实时计数与数据导出，用于半导体、医药等高洁净车间尘源溯源、环境评估与工艺改善举证。

日本 KATO KOKEN 光学玻璃缺陷可视化检测仪日本 KATO KOKEN FG 系列玻璃脉理检测装置，改良施利伦光学成像搭配自研 SSV-RT 图像处理软件，实现玻璃内部细微脉理、气泡、异物可视化。适配 AR/VR 蓝玻璃、红外光学元件、光通信器件质检，单日可检测 3000 + 工件，LED 快拆光源易维护，光学系统支持定制，是光学元件质量管理标准设备。

日本 RYUZE 高精度光学瑕疵检测仪日本 RYUZE 龙势 Dragon View 高精度透明基材缺陷检测系统，自研专属光路实现 10nm 级纳米纹理可视化，Φ80mm 大视野，可检测玻璃基板、偏光膜气泡、划痕、压痕、厚度不均等缺陷。一体化立式柜机无需洁净室，兼容行业标准校准板，支持离线抽检与在线产线集成，是光学透明材料专用质检设备。

日本 Luceo 全自动直线偏光法应力检测仪日本 Luceo LSM-9100 系列全自动应力检测仪，采用 RGB 直线偏光法，30~3000nm 宽量程延迟测量。W 款支持 Φ150mm 大样品，WS 款搭载变焦镜头适配微小工件，全自动二维全域应力成像，兼容有色玻璃、深色塑胶等各类透明基材，配套专业分析软件，广泛用于光学、电子行业应力品质检测。

日本 Luceo 全自动回转检光子法应力检测仪日本 Luceo LSM-9002 系列全自动应力检测仪，采用回转检光子法，590nm 标准波长，0~130nm 延迟测量范围，重复精度 σ=1nm。分高低两款适配不同厚度样品，全自动全域二维应力成像，配套专业分析软件，可检测玻璃、透明塑胶内部残余应力与微缺陷，适配光学、塑胶行业品质检测。