Krosaki-fc三坐标测量机校正用陶瓷基准器 这些产品主要用于精密测量设备的校准和质量控制，特别适用于需要高精度尺寸测量的工业领域。

日本k-matsumi半导体DMA纳米粒子测量装置 气溶胶先经中和器带已知电荷分布 → 进入同轴圆柱形 DMA → 仅特定电迁移直径粒子通过狭缝。 浓度计数 出 DMA 的 mono-mobile 粒子由 CNC（或 CPC）计数 → 扫描电压即可获得 10 – 1000 nm 范围内的 粒径分布（dN/dlogDp）。 结果输出 自动生成 个数浓度、表面积、体积、质量分布 及 平均粒径、众数、几

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模具磨床平面度测量陶瓷材质真直度测定仪 三坐标测量机难以实现的直线度，可测到3 μm以下 行程2400 mm时，直线度精度≤2 μm 提供便携式与固定式两种规格 行程可达3500 mm 重复精度≤0.2 μm

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