日本 NDK 便携式金属管道板材超声波测厚仪 NDK UDM750 系列超声波测厚仪，采用脉冲反射测量原理，钢材测量范围 0.8~250mm，分辨率最高 0.01mm；可测量金属、玻璃、树脂各类材质壁厚，容器带液体介质亦可检测；搭载 EL 背光显示屏、灵敏度可调，单手便携操作；750DL 内置 10000 点数据存储，USB 导出至电脑，适配工厂设备维保、管道巡检、零部件来料质量管控场景。

日本 NDK 便携式金属玻璃树脂超声波测厚仪 NDK UDM-550V 脉冲反射式超声波测厚仪，采用 R-B1 测量方式，钢材测量范围 0.7~250mm；可存储 10 种材料声速，适配金属、玻璃、塑料树脂多种材质；搭载 EL 背光液晶屏幕，昏暗环境清晰读数，机身小巧便携，单节 5 号电池供电，可对带液体储罐、密闭管道无需剖开无损测厚，多用于管线维保、压力容器巡检、零部件来料质检。

日本 ONOSOKKI 小野 电容式非接触厚度仪日本 ONOSOKKI CL-5610 系列电容式非接触厚度计，搭配 VE 系列电容传感器，可无损测量导体、半导体，选配功能后支持塑料薄膜、玻璃等绝缘体测厚；双通道输入，采样速度 20ms，具备 RS232、BCD 输出；CL-5610S 放大器外置，适合产线设备集成

日本 EWIG 激光全息超高精度接触式测厚仪日本 EWIG EH-3000 采用双激光全息标尺，接触式双面夹持测量，最小显示 0.01μm。测量范围数十 μm~8mm，重复精度 ±0.05μm 以内；适配晶圆、玻璃、金属、薄膜、塑料试样，搭载 RS-232C 数据通讯接口，支持测量数据外接电脑采集，可定制自动化工作台。

日本 YAMABUN 非接触干涉透明多薄膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-S 台式离线分光干涉式厚度测量仪，采用光纤分光干涉光学原理，非接触无损检测透明平滑薄膜、多层涂层。最高0.001μm显示分辨率，可单侧反射式测量，不易受温度波动干扰；区分薄物 / 厚物双量程，适配电子光学基材，支持离线实验室检测，也可定制为生产线在线机型。

日本 YAMABUN 非接触电容粘性保护膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-C2 台式离线电容式厚度测量仪，采用静电容量非接触检测原理，不会划伤、挤压试样，适配接触式难以测量的柔软、带粘性薄膜。量程最高 500μm，分辨率 0.01μm，支持克重换算，搭载自动介电常数设定功能；表面粗糙薄膜亦可稳定检测，是保护膜、软性基材理想离线检测设备。

日本 YAMABUN 高精度 PI 光学薄膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-6R001 台式离线接触式厚度测量仪，面向聚酰亚胺、光学薄膜等超高精度基材。量程 5~100μm，业界顶尖 0.01μm 显示分辨率，支持 0.1mm 极小采样间距；双档位轻测量压力可选，自动移送消除人为误差，测量数据自动存储，适配薄膜研发与严苛品质管控。

日本富士工 FUJIWORK 无引线薄膜测厚仪日本富士工 FT-D210NL/NLT 无引线连续薄膜测厚仪，侧边边缘进料无需抬测头，杜绝薄膜划伤；0.1μm 分辨率，分 20~500μm 薄膜款与 0.5~3mm 厚工件夹头款，0.45N 可调压力，PC 软件自动采集厚度曲线，适配锂电、光学、厚复合板材实验室批量厚度检测。