日本 YAMABUN 非接触电容粘性保护膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-C2 台式离线电容式厚度测量仪，采用静电容量非接触检测原理，不会划伤、挤压试样，适配接触式难以测量的柔软、带粘性薄膜。量程最高 500μm，分辨率 0.01μm，支持克重换算，搭载自动介电常数设定功能；表面粗糙薄膜亦可稳定检测，是保护膜、软性基材理想离线检测设备。

日本 YAMABUN 高精度 PI 光学薄膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-6R001 台式离线接触式厚度测量仪，面向聚酰亚胺、光学薄膜等超高精度基材。量程 5~100μm，业界顶尖 0.01μm 显示分辨率，支持 0.1mm 极小采样间距；双档位轻测量压力可选，自动移送消除人为误差，测量数据自动存储，适配薄膜研发与严苛品质管控。

日本富士工 FUJIWORK 无引线薄膜测厚仪日本富士工 FT-D210NL/NLT 无引线连续薄膜测厚仪，侧边边缘进料无需抬测头，杜绝薄膜划伤；0.1μm 分辨率，分 20~500μm 薄膜款与 0.5~3mm 厚工件夹头款，0.45N 可调压力，PC 软件自动采集厚度曲线，适配锂电、光学、厚复合板材实验室批量厚度检测。

日本富士工 FUJIWORK 紧凑型连续薄膜测厚仪日本富士工 FT-D200 紧凑型连续薄膜测厚仪，分 0.1μm 内置屏标准款与 0.01μm 高精密 FT-D200H；电动自动送料实现稳定连续厚度测量，0.45N 可调测试压力，配套 PC 软件采集厚度曲线，量程 10~500μm，适配锂电、光学薄膜实验室批量厚度检测。

日本富士工 FUJIWORK 全自动连续薄膜测厚仪日本富士工 FT-A200H/HR 连续薄膜测厚仪，0.01μm 超高分辨率，全自动走料实现连续厚度检测；0.3N 可调测试压力，RS232 + 模拟双路数据输出，分 10~200μm 与 3~100μm 两款量程，适配锂电隔膜、超薄光学膜实验室精密批量厚度检测。

日本富士工 FUJIWORK 气动薄膜测厚仪日本富士工 HKT-Master0.1BD/BDL 标准型薄膜测厚仪，0.1μm 分辨率，500μm 量程，0.14N 超低测试压力；气动匀速下压消除人为测量误差，M3 触控显示搭配 USB 数据输出，陶瓷台面耐磨耐用，BDL 加大台面适配宽幅试样，适用于锂电、光学薄膜实验室精密厚度检测。

日本富士工 Fujikura 实验室紧凑型测厚仪日本富士工 HKT-Master0.1BB（原 HKT-1200）紧凑型膜厚仪，0.1μm 分辨率，500μm 量程，支持市电 / 充电电池双供电；气动匀速下压消除人为误差，测试压力可调 0.14N，RS232 数据输出，兼顾实验室长期检测与产线现场便携抽检。

日本 Fujikura 超薄锂电隔膜台式测厚仪日本富士工 HKT-Master0.01BB（原 HKT-1202）超薄精密膜厚仪，0.01μm 分辨率，200μm 量程，测试压力可调 0.14N；气动匀速下压消除人为误差，AC100-240V 宽电压供电，RS232 数据输出，专为锂电隔膜、光学超薄软膜实验室高精度测厚设计。