高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪 TOF-S 是一款桌面型离线分光干涉式厚度测量装置，主要用于测量电子、光学用透明平滑薄膜和多层薄膜的厚度。 实现高重复性测量，精度可达±0.01微米以下（取决于被测物和测量条件）。 温度稳定性：受温度变化影响小，适合在不同环境条件下使用。 非接触式测量：采用分光干涉式原理，无需接触被测物，减少对被测物的损伤。 可以从薄膜的一侧进行测量，适合测量透明涂膜

光学薄膜桌面型离线接触式线性测厚仪 桌面型离线接触式厚度测量装置，适用于薄膜、高精度塑料薄膜（如聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）的厚度测量。 自动运输测量，确保测量数据的一致性，无个人差异。 厚度分布雷达图：可用于调整膨胀薄膜，直观展示厚度分布。 高精度测量：接触式测量，最小显示值可达0.01微米。

薄膜研发用离线静电容量式非接触式测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

日本yamabun非接触式半导体薄膜测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

日本yamabun山文非接触式防尘膜测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

日本yamabun山文电容式非接触测量测厚仪 采用电容式传感技术，通过测量极板间介电常数的变化来确定厚度，是非接触式测量方式。这种方式特别适用于难以用接触式测量的薄膜，即使表面状况粗糙，也可以进行测量。 自动介电常数设置功能：具有自动介电常数设置功能，简化了操作流程。

日本yamabun山文桌上型PET薄膜测厚仪 接触式测量：采用高精度的机械接触测量技术，通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度，确保了测量的高精度和高重复性。 自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性，减少了人为误差

日本yamabun山文薄膜研发品质管理用测厚仪 接触式测量：采用高精度的机械接触测量技术，通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度，确保了测量的高精度和高重复性。 自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性，减少了人为误差