日本 KMT 压电共振式弹性常数测定装置本款 CC 系列采用 RUS 压电共振固有振动法，可测试数毫米小尺寸单晶样品，测定弹性常数 Cij，换算杨氏模量、泊松比等参数。支持室温、高温、低温多工况机型，适用于各向异性单晶材料研究，满足材料实验室对晶体力学性能的精密检测需求。

Lion Engineering 颗粒剂异物检查装置本款颗粒剂异物检查装置，可精准检出并剔除颗粒剂、细粒剂、散剂内混入的各类异物。稳定识别黑色异物、毛发、细微淡色及变色异物，搭载宽幅传送带结构，支持洗净选配版本。大幅提升颗粒检测效率，助力制药行业实现生产安全与品质管控。

日本 LIGHTEST 表面缺陷目视检查照明灯LCK‑100R 是 LIGHTEST 台式 HID 目视检查照明灯，输出柔和黄绿色光，可高效检出工件表面划痕、异物、裂纹、凹痕等缺陷。支持 30‑100W 功率可调，照明部与电源可分离安装，照射范围广，热辐射低，适配汽车零部件、电路板、金属、树脂制品等行业外观检测作业。

日本 Kaneka 钟化 OLED 有机 EL 台式检查灯Kaneka 钟化 OLED 有机 EL 台式检查灯，采用有机 EL 发光面板，光线柔和均匀无重影，配备可调节悬臂支架。支持旋钮无级调光，分为 2 灯、3 灯两种规格，3000K/4000K 色温可选。夹装式安装适配 2.5‑5cm 台面，适用于工件外观瑕疵检查、质检、实验室观测等场景。

日本 X‑Loupe ITL 平台式目视灰尘检测灯X‑Loupe ITL 平台式灰尘检测灯为桌面型目视检测光源，分为 Lite、Mk1、Mk2 三款型号。搭载大面积低角度准直光源，支持 0‑100% 亮度可调，双光源通道切换。可检测工件表面灰尘颗粒、划痕缺陷，适配无尘室半导体、制药、精密制造，支持外接相机、踏板控制。

日本 KG 计测技术研究所 纹波噪声测试仪RM‑104 是日本 KG 计测研发的纹波噪声测试仪，可从开关电源复杂波形中提取并数字显示纹波噪声，测量结果无人员操作差异。标配被动式差动探头，支持多档位电压测量，配备 USB、GP‑IB、LAN 通讯接口，实现测量作业标准化，适用于电源研发、检测实验室使用。

日本 Nanometric 二次元材料结晶堆叠装置日本 Nanometric MA100tm 二次元结晶堆叠装置，为科研级手动精密设备，可完成石墨烯、二硫化钼、六方氮化硼等二维晶体 Pick‑up 与 Drop‑off 堆叠制备。搭载 XYZθ 四轴对准台与最高 200℃温控样品台，配置高分辨率变焦显微镜，支持异质结新材料研发，可按需定制配置。

日本 Tokyo Plant 定速式摩擦试验机HP‑S‑A 型定速式摩擦试验机，日本 Tokyo Plant 出品，遵循 JIS‑D4411 标准，用于汽车制动衬片、离合器摩擦面性能检测。可实现 100‑350℃温度区间测试，采集摩擦系数、摩耗率数据，数据以 CSV 格式存储，适配刹车片、摩擦材料研发质检，广泛用于汽车零部件及树脂行业。