日本 DIA 便携式双通道超声波探伤仪DIA 钻石电子 UI‑29 便携式超声波探伤仪，支持 2 通道同步探伤，具备全波形记录、外部设备联动扩展功能。支持 LAN 远程操作，配套 PC 数据分析软件，硬件软件可按需定制。人机界面贴合探伤人员操作习惯，适用于零部件、焊缝、半导体材料的现场及实验室超声无损检测。

日本 DIA 手持式阵列涡流探伤检测仪ZETEC MIZ‑21C 阵列涡流手持式探伤仪，人体工学小巧机身，5.7 英寸触控屏，支持 Wi‑Fi / 蓝牙 / USB 连接。具备电导率、涂层厚度测量，可检测腐蚀、裂纹缺陷。多版本可选，适应严苛工业环境，电池续航最长 10 小时，广泛用于航空航天、油气、电力制造行业无损检测。

日本 DIA 多通道超声波探伤多功能系统DIA 钻石电子 HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤系统，支持 2/4 通道提升检测效率，探头频率 5‑150MHz，最大扫描范围 350×350mm，最小检测间距 10μm。具备缺陷识别、测量分析软件功能，可检测功率模块、陶瓷复合材料内部空洞剥离，广泛用于半导体功率器件、陶瓷部件无损检测。

日本 Insight 桌面浸没式超声波扫描探伤仪Insight IS-202 是符合 CE 标准桌面型浸没式超声波探伤仪，小型台式结构节省实验室空间。采用 3 轴高精度扫描，机械精度可达 0.1μm，支持反射法、透射法检测。可无损检测半导体元件、金属、复合材料内部空洞、剥离缺陷，配套专业超声分析软件，广泛用于半导体、新材料、金属材料检测领域。

日本 KJTD 全数字超声探伤成像装置KJTD SDSⅢ 系列全数字超声探伤成像装置，搭载 HIS5 MF 宽频超声探伤仪，配备 6 轴高精度扫描平台。支持平面、球面、圆柱等多曲面自动化扫描，实时生成 B/C 扫描图像。可实现材料内部空洞、分层、裂纹无损检测，广泛应用半导体、航空航天、电子元件、新材料领域。

日本 HONDA 清洗机声场强度频率在线监测仪 HUS-10 超声波声强监控主机，测量频段 10kHz~5MHz，可同步显示超声电压幅值与振荡频率；搭载 4-20mA、RS485 通讯适配工控远程采集，自带阈值报警功能；可选 316L 不锈钢、石英 PTFE 两款直型探头，适配各类酸碱清洗液，广泛用于工业清洗产线质控、实验室超声机理研究。

日本 INTECS 晶圆断面测量装置系统本服务针对 INTECS VSSW 摄像管式晶圆断面测量装置开展升级改造，可复用原有外观钣金结构，仅更换老化内部电气元件，让老旧设备实现与品牌最新系统同等的测量性能与功能，节省设备全款换新成本，适配半导体晶圆断面形状长期精密量测需求。

日本 Ams 单点式卤素冷媒气体泄漏监测仪Ams HGM-SZ 单点式冷媒泄漏监测仪采用稳定红外传感器，最高检出灵敏度 1ppm，外接采样软管即可定点实时监测气体浓度；抽气量大幅降低漏检风险，安装便捷易加装在空调、制冷机组机房；兼容 HFO、HFC、SF6、NOVEC 等多类介质，运行成本低，适用于制冷设备维保、冷媒回收、车间机房 24 小时泄漏在线预警。