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日本Anritsu光学传感装置波长扫频激光光源

日本Anritsu光学传感装置波长扫频激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P

波长扫频光源(Wavelength Swept Light Source、波长扫频激光光源、波长扫频光源)是产生波长连续变化的激光的光源。
它适用于使用 OFDR(光频域反射计)进行形状测量和位移测量,OFDR 是一种利用激光相干性的光学测量方法。

  • 产品型号:AQA5500P/AQB5500P
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-07-03
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详细介绍

日本Anritsu光学传感装置波长扫频激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 特点介绍


波长扫频光源(Wavelength Swept Light Source、波长扫频激光光源、波长扫频光源)是产生波长连续变化的激光的光源。

它适用于使用 OFDR(光频域反射计)进行形状测量和位移测量,OFDR 是一种利用激光相干性的光学测量方法。

OFDR 方法也被广泛称为 FMCW(调频连续波)方法。

波长扫频光源用作精密厚度测量、振动测量、表面检查、工业OCT(工业OCT)等工业应用、眼科OCT和血管内OCT等医疗应用以及位移/波动测量等工业应用的传感光源。

它应用于广泛的领域,包括基础设施/工厂测量应用、长度测量领域等。

安立的波长扫描光源可以连续扫描具有窄线宽的单纵模波长,同时抑制模式跳跃,从而产生高度相干的波长扫描光。

通过使用这种波长扫频光源,您可以以更高的精度测量更宽的距离范围。

安立的波长扫描光源通过的光学布置改进了一般的利特曼布置,使其可以利用MEMS扫描镜实现高速波长扫描。

在该光学系统中,从有效腔端面到MEMS扫描镜的反射面构造了一个外腔,并且在由腔长决定的多个纵模中,衍射光栅的波长选择性允许被设计成这样仅选择一种模式并振荡。


日本Anritsu光学传感装置波长扫频激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 规格参数


精密厚度测量

光学零件厚度测量:玻璃、镜片等透明物体的厚度测量

薄膜和钢板的厚度测量和表面粗糙度测量

半导体晶圆厚度测量

振动测量

旋转体振幅的测量:钻头、圆盘等偏心率、表面跳动的测量。

振动体的幅宽测量和频率测量:扬声器等。

表面检查

工件毛刺、划痕的检查

测量焊料表面的微小凹凸不平


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